UNE-EN 60749-4:2003
半導體器件 機械和氣候測試方法 第4部分：濕熱、穩態、高加速應力測試（HAST）

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST).

被代替

UNE-EN 60749-4:2003 發布歷史

UNE-EN 60749-4:2003由AENOR 發布于 2003-05-30，并于 2003-05-30 實施。

UNE-EN 60749-4:2003 半導體器件 機械和氣候測試方法 第4部分：濕熱、穩態、高加速應力測試（HAST）的最新版本是哪一版？

最新版本是 UNE-EN 60749-4:2017 。

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• 2017年 UNE-EN 60749-4:2017 半導體器件 - 機械和氣候測試方法 - 第 4 部分：濕熱、穩態、高加速應力測試 (HAST)
• 2003年 UNE-EN 60749-4:2003 半導體器件 機械和氣候測試方法 第4部分：濕熱、穩態、高加速應力測試（HAST）

標準號

UNE-EN 60749-4:2003

發布

2003年

發布單位

AENOR

替代標準

UNE-EN 60749-4:2017

當前最新

UNE-EN 60749-4:2017

 

 

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