AccuTOF DART 系統的峰形校正和分子式測定

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Mass Works 技 術 專 題

      結合創新的大氣壓離子化技術和高分辨飛行時間（TOF）質譜的AccuTOF DART系統，是未知化合物識別的有利工具。盡管系統具有相對較高的質量準確度，但僅僅依靠質量準確度用于分子式篩選，很難得到唯一的分子式。MassWorks sCLIPS的峰形校正能大大提高儀器唯一識別未知物的能力，而且在存在干擾的情況下不需要額外校正也能很好識別。

      這篇應用文章通過來自AccuTOF DART系統的一個實例，顯示了TOF MS峰形校正對于分子式識別的重要性，說明不使用內標或外標，利用MassWorks sCLIPS（自校正線形譜圖同位素輪廓搜索）對于分子式檢測的可行性。