高分辨和低分辨質譜上的兩種MassWorks解決方案

      基于MassWorks質譜數據處理軟件的成功獲獎，Cerno自豪地宣布了其最新突破，將MassWorks軟件應用能力擴展到任何質譜——無論您使用的好似單位質量分辨的四極桿GC/MS或LC/MS系統，還是從TOF到FT-MS的高分辨質譜，MassWorks能夠幫助您提高分子式識別能力，也能幫助您在現有儀器上容易得到更高質量精度、更好重現性數據。

      MassWorks是容易使用的采集后處理軟件包，它采用Cerno專利的MSIntegrity校正技術，可以直接對目前大部分質譜采集的數據進行處理。用您現有的質譜系統進行簡單數據采集，然后利用MassWorks打開這些數據，進行處理就可以得到測定結果。除了直接讀取主要質譜供應商的原始數據，MassWorks也可直接輸入通過軟件剪切和粘貼輸出的ASCII數據或直接輸出的ASCII文件，因此MassWorks事實上可以處理任何廠家和型號的質譜數據。



      對于高分辨率質譜，如TOF、Orbitrap或FT-MS，不需要標準物校正，在僅通過質量精度得到眾多可能分子式的待選列表中，可以大大提高未知物分子式的唯一識別能力！

      對于四極桿型LC/MS或GC/MS，得到高于100倍以上的質量精度，在傳統質譜系統上實現了分子式的識別。

      MassWorks通過改善重復性、信噪比和質譜峰檢測，可以提高任何質譜數據的質量。


從質量精度到譜圖準確度

      質量精度是儀器檢測一個離子理論質量的測量誤差，常常表示為相對理論值的ppm或mDa。不幸的是，由于在給定的測量誤差范圍內存在一些可能的分子式，僅憑質量精度很難提供唯一的分子式，特別是在高質量端（400 Da以上），如即使是質量精度為1 ppm的FT-ICR，測得的477.2303 Da，對于通常的有機元素組成C、H、N、O、S、Cl、P、F和Na，仍有569種可能的分子式。

      譜圖準確度是計量測量譜圖（整個離子同位素輪廓）與理論譜圖相似程度的工具。然而，目前大部分質譜缺乏峰形校正技術，測量譜圖的線性峰形不能用數學表達，且依賴于儀器/質譜調諧；所以，未經峰形校正的譜圖準確度值對于提供唯一分子式通常是不夠的。

      Cerno的MassWorks軟件完美地解決了這個問題，不僅：

準確地校正了質譜峰質量軸位置，

而且也將質譜的線性峰形校正為可用數學表達的函數，

      這就允許非常準確地對比校正譜圖和理論譜圖，譜圖準確度值能夠唯一識別未知離子的分子式，這個專利的分子式識別方式，用于低分辨率質譜的叫做CLIPS（校正的線形同位素輪廓搜索）；用于高分辨率質譜的叫做sCLIPS（自校正的線形同位素輪廓搜索）。
      MassWorks軟件校正了譜圖的線形峰形，可以高度準確地對比校正譜圖與理論譜圖，譜圖準確度能夠高于99.9%以上，這大大提高了高分辨質譜的分子式識別能力。當結合MassWorks校正后提高的質量精度，在單位質量分辨的GC/MS和LC/MS也可以實現分子式識別。


CLIPS搜索后4－氯甲苯（C₇H₇Cl，名義質量數或較取整質量數為126 Da）的精確譜圖疊加。MassWorks正確識別了這個化合物（排名第一位），譜圖準確度為99.5%，質量精度為9 ppm。盡管在125 Da存在M-H的干擾離子，這在GC/MS中也是常見的問題，但通過MassWorks的混合搜索工具，這個問題很容易解決。


對于高分辨率質譜

      對于高分辨率質譜，不需要標準物校正，利用sCLIPS，提高分子式識別的準確程度。

應用于TOF、QTOF、高分辨四極桿型、Orbitrap或FT-MS儀器

      sCLIPS搜索操作簡單、方便，而且不需要校正物，這也避免了為得到高質量精度，頻繁而耗時地校正工作。不但節約時間、提高樣品分析通量；而且還改善了分析結果。在MassWorks上簡單地直接打開數據文件，或從儀器供應商軟件中剪切或粘貼，在單同位素峰標記處點擊并發送到sCLIPS，校正自動運行并返回搜索結果。

對于單位質量分辨率的四極桿質譜

      在單位質量分辨率的單級或三重四極桿GC/MS、或LC/MS上，得到精確質量，并利用CLIPS實現分子式識別。

應用于單級和三重四極桿GC/MS或LC/MS儀器

      在傳統質譜系統上，大大提高質量精度和譜圖準確度，實現了分子式識別。利用已知校正化合物和MassWorks專利的MSIntegrity校正技術，常常可以得到5 ~ 10 mDa的質量精度，結合通過MassWorks線性譜圖校正，得到的譜圖準確度，實現確信的分子式識別。


sCLIPS自校正線形同位素輪廓搜索技術