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  • 質譜校正和分子式識別的革命性軟件—— 在常規質譜上實現精確質量測定,并結合同位素輪廓直接獲得物質分子式

    同時補償LC-TOF系統的峰形和質荷比以得到高質量精度

    上一篇 / 下一篇  2010-01-26 11:20:01/ 個人分類:TOF/FT類應用

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    Mass Works 技 術 專 題


          得到5 ppm 或更好的質量精度常常需要包括內標和外標的細致質量校正,有時候也需要精心地、繁瑣地對質譜進行調諧,以得到具有很好對稱、沒有拖尾的理想峰形,這常常推薦用于高端儀器,如qTOF 或高分辨TSQ。本文說明一個不同的全面質譜校正過程,可以補償峰形偏差,即使存在峰形不對稱和嚴重拖尾也可以得到高質量精度。



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