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  • X_射線衍射與火焰原子吸收法聯合測定ZnS_Mn薄膜屏中Mn含量

    上一篇 / 下一篇  2009-04-07 16:08:07/ 個人分類:原子吸收

    • 文件版本: V1.0
    • 開發商: 本站原創
    • 文件來源: 本地
    • 界面語言: 簡體中文
    • 授權方式: 免費
    • 運行平臺: Win9X/Win2000/WinXP
    摘 要:提出一種X2射線衍射(XRD)與火焰原子吸收法(FAAS)聯合測定ZnS∶Mn交流電致發光(ACEL)薄膜中Mn含量的新方法。首先用XRD測定ZnS薄膜的結構,判斷薄膜是否符合它的化學式量,在符合化學式量基礎上,再用FAAS分別測定Zn與Mn的質量分數,最終確定Mn在ZnS薄膜中的含量。與單獨采用FAAS測定相比較,測定結果的相對誤差,相對標準偏差相同。但是,該方法具有樣品處理簡單,分析周期短,所需樣品量少等優點。不僅可以提供Mn在ZnS薄膜中的含量與構成質量,同時也可以對ZnS∶Mn交流電致發光膜薄的濃度分布以及均勻度提供客觀的評價指標,以利于鍍膜工藝中各參數指標的改善。



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    TAG: xrdfaasznmn交流電致發光薄膜

     

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