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探針片 碳
本專題涉及探針片 碳的標準有29條。
國際標準分類中，探針片 碳涉及到絕緣流體、半導體材料、復合增強材料、電學、磁學、電和磁的測量、有色金屬、光學和光學測量、輻射測量、金屬材料試驗、石油和天然氣工業設備、分析化學。
在中國標準分類中，探針片 碳涉及到金屬物理性能試驗方法、半金屬與半導體材料綜合、、氧化物、單質、電工材料和通用零件綜合、元素半導體材料、電子光學與其他物理光學儀器、醫用射線設備、基礎標準與通用方法、鋼鐵與鐵合金分析方法。
國家質檢總局，關于探針片 碳的標準
- GB/T 6617-1995 硅片電阻率測定 擴展電阻探針法
- GB/T 6617-2009 硅片電阻率測定 擴展電阻探針法
- GB/T 15247-1994 碳鋼和低合金鋼中碳的電子探針的定量分析方法 靈敏度曲線法(檢量線法)
- GB/T 15247-2008 微束分析.電子探針顯微分析.測定鋼中碳含量的校正曲線法
中國團體標準，關于探針片 碳的標準
- T/CSTM 00252-2020 碳纖維體積電阻率試驗方法 四探針法
- T/IAWBS 003-2017 碳化硅外延層載流子濃度測定_汞探針電容-電壓法
國家市場監督管理總局、中國國家標準化管理委員會，關于探針片 碳的標準
- GB/T 39978-2021 納米技術 碳納米管粉體電阻率 四探針法
韓國科技標準局，關于探針片 碳的標準
- KS D 0260-1999 四點探針法測試單晶硅片電阻率的方法
- KS C 0256-2002(2022) 硅晶體和硅片電阻率的四點探針測試方法
- KS D 0260-1989(1994) 具有四點探針的單晶硅片的電阻率測試方法
- KS C 0256-2002 硅單結晶及硅片的4探針法的抵抗率測定方法
- KS C 0256-2002(2017) 具有四點探針的硅晶體和硅晶片的電阻率測試方法
- KS D ISO 16592:2011 微光束分析.電子探針顯微分析.用校準曲線法測定鋼碳含量的指南
- KS D ISO 16592-2011(2016) 微束分析－電子探針顯微分析－用校準曲線法測定鋼中碳含量的指南
- KS D ISO 16592-2011(2021) 微束分析－電子探針微量分析－用校準曲線法測定鋼中碳含量的指南
德國標準化學會，關于探針片 碳的標準
- DIN 6800-4:2000-12 光子和電子輻射探針型探測器劑量測定程序 第4部分：膠片劑量測定
- DIN 50435:1988 半導體材料試驗:采用四探針/直流法測量硅片和鍺片電阻率的徑向變化
- DIN 6800-4:2000 光子輻射和電子輻射用探針型探測器的劑量測定程序.第4部分:膠片劑量測定法
- DIN ISO 16592:2015 微光束分析.電子探針顯微分析.用校準曲線法測定鋼的碳含量的指南(ISO 16592-2012)
日本工業標準調查會，關于探針片 碳的標準
- JIS H 0602:1995 用四點探針法對硅晶體和硅片電阻率的測試方法
美國材料與試驗協會，關于探針片 碳的標準
- ASTM F390-98 具有共線四探針陣列的金屬薄膜的片電阻的標準試驗方法
- ASTM F1392-00 用帶汞探針的容量-電壓測量法測定硅晶片中凈載流子密度分布的標準試驗方法
KR-KS，關于探針片 碳的標準
- KS M ISO 7278-2-2003(2023) 液體碳氫化合物-動態測量體積計的驗證系統-第2部分:管道探針
英國標準學會，關于探針片 碳的標準
- BS ISO 16592:2012 微光束分析.電子探針顯微分析.用校準曲線法測定鋼碳含量的指南
國際標準化組織，關于探針片 碳的標準
- ISO 16592:2006 微光束分析.電子探針顯微分析.用校準曲線法測定鋼的碳含量的指南
- ISO 16592:2012 微光束分析.電子探針顯微分析.用校準曲線法測定鋼的碳含量的指南
法國標準化協會，關于探針片 碳的標準
- NF X21-007:2008 微光束分析.電子探針顯微分析.用校準曲線法測定鋼中碳含量的指南
美國保險商實驗所，關于探針片 碳的標準
- UL RP 3002-2017 用于確定接觸臺鋸旋轉刀片的測試探針上的切割深度的安全 UL 標準（第一版）
河北省標準，關于探針片 碳的標準
- DB13/T 5026.3-2019 石墨烯導電漿料物理性質的測定方法 第3部分：漿料極片電阻率的測定 四探針法
