光 半導體
本專題涉及光 半導體的標準有37條。
國際標準分類中，光 半導體涉及到光電子學、激光設備、光學和光學測量、半導體分立器件。
在中國標準分類中，光 半導體涉及到、半導體光敏器件、半導體分立器件綜合、光通信設備、激光器件。
吉林省地方標準，關于光 半導體的標準
- DB22/T 2725-2017 980 nm光纖光柵半導體激光器
英國標準學會，關于光 半導體的標準
- BS 3363:1961 光電半導體器件字母符號表
- BS IEC 60747-5-4:2022 半導體器件-光電器件 半導體激光器
- PD IEC TR 61292-9:2023 光放大器 半導體光放大器(SOA)
- BS PD IEC TR 61292-9:2023 光放大器 半導體光放大器（SOA）
- BS IEC 60747-5-4:2006 半導體器件.分立器件.光電器件.半導體激光器
- BS PD IEC/TR 61292-9:2013 光放大器 半導體光放大器（SOA）
- BS PD IEC/TR 61292-9:2017 光放大器 半導體光放大器（SOA）
- BS EN 62007-2:2000 光纖系統半導體光電器件.測量方法
臺灣地方標準，關于光 半導體的標準
- CNS 13805-1997 光電半導體晶圓之光激光譜量測法
RO-ASRO，關于光 半導體的標準
- STAS 12258/7-1987 光電半導體器件．光電池術語和基本特性
- STAS 12258/3-1985 光電半導體器件．光電晶體管術語和基本特性
- STAS 12258/5-1986 光電半導體．設備顯示．術語和基本特性
- STAS 12258/4-1986 光電半導體設備．發光二極管術語和主要特性
- STAS 12258/2-1984 光電半導體裝置．光電二極管術語和基本特性
- STAS 12258/1-1984 光電半導體器件總體基本參數的總術語和命名
- STAS 12258/6-1987 光電半導體器件．紅外發射二極管術語和基本特性
行業標準-電子，關于光 半導體的標準
- SJ 2220-1982 半導體達林頓型光耦合器
- SJ 2215.1-1982 半導體光耦合器測試方法總則
- SJ 2219-1982 半導體光敏三極管型光耦合器
- SJ 20072-1992 半導體分立器件.GH24、GH25和GH26型半導體光耦合器.詳細規范
- SJ 2215.6-1982 半導體光耦合器（二極管）結電容的測試方法
- SJ 50033/3-1994 半導體分立器件.GP、GT和GCT級GH21、GH22和GH23型半導體光耦合器詳細規范
- SJ 2215.8-1982 半導體光耦合器輸出飽和壓降的測試方法
- SJ 2215.10-1982 半導體光耦合器直流電流傳輸比的測試方法
- SJ 2215.3-1982 半導體光耦合器（二極管）正向電流的測試方法
- SJ 2215.14-1982 半導體光耦合器入出間絕緣耐壓的測試方法
- SJ 2215.12-1982 半導體光耦合器入出間隔離電容的測試方法
- SJ 2218-1982 半導體光敏二極管型光耦合器
- SJ 2215.13-1982 半導體光耦合器入出間絕緣電阻的測試方法
- SJ 2215.4-1982 半導體光耦合器（二極管）反向電流的測試方法
- SJ 2215.2-1982 半導體光耦合器（二極管）正向壓降的測試方法
德國標準化學會，關于光 半導體的標準
- DIN 4000-20:1988-12 用于光電半導體器件的文章特征表格布局
國際電工委員會，關于光 半導體的標準
- IEC 60747-5-4:2006 半導體器件.分立器件.第5-4部分:光電器件.半導體激光器
阿曼規格和計量局，關于光 半導體的標準
- OS GSO IEC 60747-5-4:2014 半導體器件 分立器件 第5-4部分：光電器件 半導體激光器
海灣阿拉伯國家合作委員會標準組織，關于光 半導體的標準
- GSO IEC 60747-5-4:2014 半導體儀器 分立儀器 第5-4部分：光電儀器 半導體激光器
巴林國家計量局，關于光 半導體的標準
- BH GSO IEC 60747-5-4:2016 半導體器件 分立器件 第5-4部分：光電器件 半導體激光器
