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    二次電子分辨率高

    本專題涉及二次電子分辨率高的標準有28條。

    國際標準分類中,二次電子分辨率高涉及到分析化學、電車、金屬材料試驗、空氣質量、導體材料。

    在中國標準分類中,二次電子分辨率高涉及到基礎標準與通用方法、焊接與切割設備、物性分析儀器、化學助劑基礎標準與通用方法。


    國際標準化組織,關于二次電子分辨率高的標準

    • ISO/TS 22933:2022 表面化學分析.二次離子質譜法.模擬離子質譜中質量分辨率的測量方法
    • ISO 17974:2002 表面化學分析.高分辨率螺旋電子光譜儀.元素和化學狀態分析用能量標度的校準
    • ISO 17109:2022 表面化學分析.深度剖面.用單層和多層薄膜在X射線光電子能譜、俄歇電子能譜和二次離子質譜中測定濺射速率的方法
    • ISO 17109:2015 表面化學分析. 深度剖析. 使用單層和多層薄膜測定X射線光電子能譜, 俄歇電子能譜以及二次離子質譜法濺射深度剖析中濺射率的方法
    • ISO 13083:2015 表面化學分析. 掃描式探針顯微術. 電子掃描式探針顯微術 (ESPM), 例如用于二維摻雜成像等用途的SSRM和SCM, 中空間分辨率的定義和校準標準

    未注明發布機構,關于二次電子分辨率高的標準

    • BS ISO 20341:2003(2010) 表面化學分析 二次離子質譜 多δ層參考材料估計深度分辨率參數的方法
    • BS ISO 17974:2002(2010) 表面化學分析 高分辨率俄歇電子能譜儀 元素和化學態分析能級的校準

    日本工業標準調查會,關于二次電子分辨率高的標準

    • JIS K 0169:2012 表面化學分析.二次離子質譜(SIMS).帶多重亞鉛層對照物的深度分辨率參數估算方法
    • JIS K 0166:2011 表面化學分析.高分辨率螺旋電子光譜儀.元素和化學狀態分析用能量標度的校準

    韓國科技標準局,關于二次電子分辨率高的標準

    • KS C ISO 12405-1:2012 電動車用鋰二次電池/系統評估.第1部分:高功率用電池
    • KS D ISO 17974-2011(2021) 表面化學分析——高分辨率俄歇電子光譜儀——元素和化學狀態分析用能標的校準
    • KS D ISO 17974-2011(2016) 表面化學分析高分辨率俄歇電子能譜儀元素和化學狀態分析用能標的校準
    • KS D ISO 17974:2011 表面化學分析.高分辨率螺旋電子光譜儀.元素和化學狀態分析用能量標度的校準

    美國材料與試驗協會,關于二次電子分辨率高的標準

    • ASTM F1710-97 使用高分辨率發光質譜儀測試電子級鈦中痕量金屬雜質的標準試驗方法
    • ASTM F1710-97(2002) 使用高分辨率發光質譜儀測試電子級鈦中痕量金屬雜質的標準試驗方法
    • ASTM F1593-08(2016) 使用高質量分辨率輝光放電質譜儀測定電子級鋁中痕量金屬雜質的標準試驗方法
    • ASTM F1710-08(2016) 使用高質量分辨率輝光放電質譜儀測定電子級鈦中痕量金屬雜質的標準試驗方法
    • ASTM F1845-08(2016) 采用高質量分辨率輝光放電質譜儀測定電子級鋁銅, 鋁硅和鋁銅硅合金中的痕量金屬雜質的標準試驗方法

    英國標準學會,關于二次電子分辨率高的標準

    • BS ISO 17974:2002 表面化學分析.高分辨率螺旋電子光譜儀.元素和化學狀態分析用能量標度的校準
    • BS ISO 17109:2022 表面化學分析 深度剖析 使用單層和多層薄膜的 X 射線光電子能譜、俄歇電子能譜和二次離子質譜濺射深度分析中濺射速率的測定方法...
    • 21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1 表面化學分析 深度剖析 使用單一和……的 X 射線光電子能譜、俄歇電子能譜和二次離子質譜濺射深度分析中濺射速率測定方法
    • BS ISO 17109:2015 表面化學分析. 深度剖析. 使用單層和多層薄膜測定X射線光電子能譜, 俄歇電子能譜以及二次離子質譜法濺射深度剖析中濺射率的方法
    • BS ISO 13083:2015 表面化學分析. 掃描式探針顯微術. 電子掃描式探針顯微術 (ESPM), 例如用于二維摻雜成像等用途的SSRM和SCM, 中空間分辨率的定義和校準標準

    法國標準化協會,關于二次電子分辨率高的標準

    • NF ISO 17974:2009 表面化學分析 高分辨率俄歇電子能譜儀 用于元素和化學狀態分析的能量標度校準
    • NF X21-067*NF ISO 17974:2009 表面化學分析.高分辨率俄歇(Auger)電子分光計.元素及化學物質狀態分析用能量標度的校準

    澳大利亞標準協會,關于二次電子分辨率高的標準

    • AS ISO 17974:2006 表面化學分析.高分辨率俄歇電子分光計法.元素及化學物質狀態分析用能量標度校準

    RU-GOST R,關于二次電子分辨率高的標準

    • GOST R ISO 16000-14-2013 室內空氣. 第14部分. 總體(氣體和粒子相)聚氯聯二苯(PCB)和多氯代二苯并二惡英/多氯代二苯并呋喃(PCDD/PCDF)的測定. 使用高分辨率氣象色譜和質譜分析法進行的提取, 清理和分析

    國家市場監督管理總局、中國國家標準化管理委員會,關于二次電子分辨率高的標準

    • GB/T 41064-2021 表面化學分析 深度剖析 用單層和多層薄膜測定X射線光電子能譜、俄歇電子能譜和二次離子質譜中深度剖析濺射速率的方法




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