掃描電鏡與光學
本專題涉及掃描電鏡與光學的標準有26條。
國際標準分類中，掃描電鏡與光學涉及到長度和角度測量、光學設備、分析化學、詞匯、有色金屬、光電子學、激光設備、空氣質量、熱力學和溫度測量、電子顯示器件、光學和光學測量。
在中國標準分類中，掃描電鏡與光學涉及到放大鏡與顯微鏡、、技術管理、電子光學與其他物理光學儀器、記錄儀器及光線示波器、光學設備、基礎標準與通用方法、電磁計量。
行業標準-商品檢驗，關于掃描電鏡與光學的標準
- SN/T 4388-2015 皮革鑒定 掃描電鏡和光學顯微鏡法
美國材料與試驗協會，關于掃描電鏡與光學的標準
- ASTM E2382-04 掃描隧道顯微鏡學和原子力顯微鏡學中掃描器和與觸點相關物品的指南
- ASTM E2382-04(2012) 掃描隧道顯微鏡學和原子力顯微鏡學中掃描器和與觸點相關物品的標準指南
- ASTM E986-04(2017) 掃描電子顯微鏡光束尺寸表征的標準實踐
- ASTM E986-97 掃描電子顯微鏡光束尺寸表征的標準實踐
- ASTM E986-04(2024) 掃描電子顯微鏡光束尺寸表征的標準實踐
中國團體標準，關于掃描電鏡與光學的標準
- T/SPSTS 032-2023 掃描電化學顯微鏡通用規范
- T/COEMA 21O-2024 激光雷達用多面掃描轉鏡
- T/QGCML 1940-2023 掃描電子顯微鏡原位高溫力學測試裝置
國際標準化組織，關于掃描電鏡與光學的標準
- ISO 27911:2011 表面化學分析.掃描探針顯微鏡.近場光學顯微鏡橫向分辨率的定義與校準
- ISO 22493:2008 微光束分析.掃描電子顯微鏡方法.詞匯
- ISO/TS 21383:2021 微束分析.掃描電子顯微鏡.定量測量用掃描電子顯微鏡的鑒定
韓國科技標準局，關于掃描電鏡與光學的標準
- KS D ISO 22493:2012 微光束分析.掃描電子顯微鏡.術語
- KS D 2713-2021 NSOM（近場掃描光學顯微鏡）空間分辨率評價
- KS D 2713-2016 NSOM（近場掃描光學顯微鏡）空間分辨率的評估
- KS D 2713-2016(2021) NSOM（近場掃描光學顯微鏡）空間分辨率的評估
英國標準學會，關于掃描電鏡與光學的標準
- 13/30203227 DC BS ISO 13083 表面化學分析 掃描探針顯微鏡 掃描擴散電阻顯微鏡和掃描電容顯微鏡的空間分辨率定義和校準標準
日本工業標準調查會，關于掃描電鏡與光學的標準
- JIS K 0132:1997 掃描電子顯微鏡總則
- JIS K 3850-1:2006 空中纖維分子的測定.第1部分:光學顯微鏡法和掃描電子顯微鏡法
- JIS K 3850-1:2000 空氣中纖維粒子的測量方法.第1部分:光學顯微鏡法和掃描電子顯微鏡法
國家計量技術規范，關于掃描電鏡與光學的標準
- JJF 1916-2021 掃描電子顯微鏡校準規范
行業標準-機械，關于掃描電鏡與光學的標準
- JB/T 5384-1991 掃描電子顯微鏡.技術條件
- JB/T 6842-1993 掃描電子顯微鏡試驗方法
國家計量檢定規程，關于掃描電鏡與光學的標準
- JJG(教委) 11-1992 掃描電子顯微鏡檢定規程
德國機械工程師協會，關于掃描電鏡與光學的標準
- VDI/VDE 5565 BLATT 1:2023 光學相干斷層掃描 (OCT) 過程描述
巴林國家計量局，關于掃描電鏡與光學的標準
- BH GSO ISO 27911:2016 表面化學分析 掃描探針顯微鏡 近場光學顯微鏡橫向分辨率的定義和校準
