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倒置顯微鏡金
本專題涉及倒置顯微鏡金的標準有144條。
國際標準分類中，倒置顯微鏡金涉及到光學設備、水質、光學和光學測量、教育、金屬材料試驗、熱力學和溫度測量、金融、銀行、貨幣體系、保險、表面處理和鍍涂、長度和角度測量、金屬生產、建筑材料、核能工程、分析化學、機械試驗、陶瓷、微生物學、潤滑劑、工業油及相關產品。
在中國標準分類中，倒置顯微鏡金涉及到放大鏡與顯微鏡、人類工效學、光學計量、金相檢驗方法、金相試驗儀器及其他試驗室儀器、教學專用儀器、、材料防護、金屬化學分析方法綜合、金屬物理性能試驗方法、稀有金屬及其合金分析方法、冶金原料與輔助材料綜合、犯罪鑒定技術、勘探采礦和工藝監測核儀器、非金屬礦綜合、基礎標準與通用方法、電子光學與其他物理光學儀器、特種陶瓷、金屬化學性能試驗方法。
PL-PKN，關于倒置顯微鏡金的標準
- PN C05551-1987 水和廢水．用倒置顯微鏡測定浮游植物的數量
- PN H04951-1986 粉末冶金學．光學顯微鏡方法測定粉末微粒大小
- PN H87903-1972 銅合金鑄件研究．制備及抽樣測試．顯微鏡觀察用的樣品
行業標準-機械，關于倒置顯微鏡金的標準
- JB/T 10077-1999 金相顯微鏡
- JB/T 7398.11-1994 顯微鏡.相襯裝置
- JB/T 7398.8-1994 顯微鏡.投影裝置
- JB/T 7398.9-1994 顯微鏡.照相裝置
- JB/T 7398.10-1994 顯微鏡.暗視場裝置
- JB/T 8230.7-1999 顯微鏡.載物臺裝壓簧和移動尺用孔的尺寸和位置
法國標準化協會，關于倒置顯微鏡金的標準
- NF EN 15204:2006 水質 - 倒置顯微鏡計數浮游植物的指南標準（Uterm?hl 方法）
- NF A91-110:2004 金屬和氧化物鍍層.鍍層厚度的測量.顯微鏡法
- NF A91-110*NF EN ISO 1463:2021 金屬和氧化物鍍層. 鍍層厚度的測量. 顯微鏡法
- NF A91-110:1995 金屬和氧化物鍍層.鍍層厚度的測定.顯微鏡法
- NF A91-108:1995 金屬鍍層.鍍層厚度的測量.掃描電子顯微鏡法
- NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 金屬鍍層 鍍層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法
- NF EN ISO 9220:2022 金屬涂層.涂層厚度的測量.掃描電子顯微鏡法
- NF ISO 4407:2002 液壓傳動裝置 流體污染 通過在光學顯微鏡下計數測定顆粒污染
- NF EN ISO 2128:2010 鋁及其合金的陽極氧化.陽極層厚度的測定.光學切片顯微鏡無損方法
- NF A91-481*NF EN ISO 2128:2010 鋁和鋁合金陽極氧化 陽極氧化物鍍層厚度的測定 分光顯微鏡的無損測量
丹麥標準化協會，關于倒置顯微鏡金的標準
- DS/EN 15204:2006 水質-倒置顯微鏡浮游植物計數指南標準（Uterm張hl技術）
- DS/ISO 1463:1983 金屬和氧化物鍍層. 鍍層厚度的測定. 顯微鏡法
- DS/EN ISO 1463:1994 金屬和氧化覆蓋層．覆蓋層厚度測量．顯微鏡法
- DS/EN ISO 9220:1995 金屬鍍層 鍍層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法
- DS/EN ISO 1463:2021 金屬和氧化物涂層 涂層厚度的測量 顯微鏡方法（ISO 1463:2021）
- DS/EN ISO 2128:2010 鋁及其合金的陽極氧化 陽極氧化膜厚度的測定 分束顯微鏡無損測量
立陶宛標準局，關于倒置顯微鏡金的標準
- LST EN 15204-2007 水質-倒置顯微鏡浮游植物計數指南標準（Uterm張hl技術）
- LST EN ISO 9220:2001 金屬鍍層-鍍層厚度的測量-掃描電子顯微鏡法（ISO 9220:1988）
- LST EN ISO 1463:2004 金屬和氧化物涂層 涂層厚度的測量 顯微鏡法（ISO 1463:2003）
- LST EN ISO 1463:2021 金屬和氧化物涂層 涂層厚度的測量 顯微鏡法（ISO 1463:2021）
德國標準化學會，關于倒置顯微鏡金的標準
- DIN EN 15204:2006-12 水質 使用倒置顯微鏡（Uterm?hl 技術）計數浮游植物的指導標準
- DIN EN ISO 1463:2004 金屬和氧化物鍍層.鍍層厚度的測定.顯微鏡法
- DIN EN ISO 9220:2022-05 金屬涂層-涂層厚度的測量-掃描電子顯微鏡法
- DIN EN ISO 9220:2021 金屬涂層-涂層厚度的測量-掃描電子顯微鏡法（ISO/DIS 9220:2021）
- DIN EN ISO 1463:2021 金屬和氧化物涂層 涂層厚度的測量 顯微鏡法（ISO 1463:2021）；德文版 EN ISO 1463:2021
- DIN EN ISO 9220:1995 金屬鍍層.鍍層厚度測量.電子掃描顯微鏡法 (ISO 9220:1988); 德文版本 EN ISO 9220:1994
AENOR，關于倒置顯微鏡金的標準
- UNE-EN 15204:2007 水質倒置顯微鏡浮游植物計數指導標準（Uterm錛焗l技術）
- UNE-EN ISO 9220:1996 金屬涂層 涂層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法 （ISO 9220:1988）
- UNE-EN ISO 1463:2005 金屬和氧化物涂層 涂層厚度的測量 顯微鏡法（ISO 1463:2003）
美國國防后勤局，關于倒置顯微鏡金的標準
- DLA GG-I-460 (1)-1952 115伏顯微鏡照明裝置
- DLA GG-I-460-1952 115伏顯微鏡照明裝置
國家計量技術規范，關于倒置顯微鏡金的標準
- JJF 1914-2021 金相顯微鏡校準規范
國家計量檢定規程，關于倒置顯微鏡金的標準
- JJG(教委) 012-1996 金相顯微鏡檢定規程
- JJG(教委) 14-1992 金相顯微鏡檢定規程
行業標準-教育，關于倒置顯微鏡金的標準
- JY/T 012-1996 金相顯微鏡分析方法通則
- JY/T 0585-2020 金相顯微鏡分析方法通則
HU-MSZT，關于倒置顯微鏡金的標準
- MNOSZ 5535-1956 顯微鏡的制備療養彈簧表/峰的位置
RO-ASRO，關于倒置顯微鏡金的標準
- STAS 5949-1980 鋼材中非金屬物質測定．顯微鏡方法
- STAS 10552-1976 用奧氏體鋼顯微鏡測定堆焊金屬中鐵含量
- STAS 5490-1980 金相學．用顯微鏡測定鋼中的顆粒大小并提供證據
臺灣地方標準，關于倒置顯微鏡金的標準
- CNS 2910-2008 鋼內非金屬介在物之顯微鏡試驗法
- CNS 2910-1986 鋼內非金屬夾雜物之顯微鏡試驗方法
- CNS 12114-1987 金屬鍍層與金屬氧化層用橫截面顯微鏡式厚度測定法
中國團體標準，關于倒置顯微鏡金的標準
- T/QGCML 1940-2023 掃描電子顯微鏡原位高溫力學測試裝置
行業標準-金融，關于倒置顯微鏡金的標準
- JRT 0267-2023 貴金屬紀念幣 圖像比對 比較顯微鏡法
國家質檢總局，關于倒置顯微鏡金的標準
- GB/T 6462-2005 金屬和氧化物覆蓋層 厚度測量 顯微鏡法
- GB/T 6462-1986 金屬和氧化物覆蓋層 橫斷面厚度顯微鏡測量方法
- GB 5929-1986 輕工產品金屬鍍層和化學處理層的厚度測試方法 金相顯微鏡法
- GB/T 8014.3-2005 鋁及鋁合金陽極氧化 氧化膜厚度的測量方法 第3部分;分光束顯微鏡法
英國標準學會，關于倒置顯微鏡金的標準
- BS EN ISO 9220:1989 金屬鍍層.鍍層厚度測量.掃描電子顯微鏡法
- BS EN ISO 1463:2005 金屬和氧化物覆層.覆層厚度的測定.顯微鏡法
- BS EN ISO 1463:2021 金屬和氧化物覆層 覆層厚度的測定 顯微鏡法
- BS EN ISO 9220:2022 金屬涂層 涂層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法
- 21/30394409 DC BS ENISO 9220 金屬涂層 涂層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法
- 20/30395419 DC BS EN ISO 1463 金屬和氧化物涂層 涂層厚度的測量 顯微鏡法
- BS ISO 20263:2017 微束分析 分析電子顯微鏡 層狀材料橫截面圖像中界面位置的確定方法
SE-SIS，關于倒置顯微鏡金的標準
- SIS SS-ISO 1463:1983 金屬和氧化涂層．涂層厚度的測量．顯微鏡法
- SIS SS-ISO 9220:1989 金屬涂層．涂層厚度測量．掃描電子顯微鏡方法
- SIS SMS 2953-1971 通過顯微鏡觀察橫截面，對金屬和氧化物涂層厚度的測量
- SIS SS 11 11 16-1987 鋼．非金屬雜質含量評價方法，顯微鏡法非金屬雜質含量評價Jernkontorets雜質圖表II
韓國科技標準局，關于倒置顯微鏡金的標準
- KS D 8544-2006 金屬涂層.涂層厚度測量.透射電子顯微鏡法
- KS D 8544-2016(2021) 金屬涂層——涂層厚度測量——透射電子顯微鏡法
- KS D 0204-2007 鋼中非金屬雜質的含量測定.顯微鏡試驗方法
- KS D 8519-2009 金屬和氧化物鍍層.鍍層厚度的測定.顯微鏡法
- KS D ISO 9220:2009 金屬覆蓋層.鍍層厚度測量.掃描電子顯微鏡法
- KS D ISO 9220-2009(2022) 金屬鍍層鍍層厚度的測量掃描電子顯微鏡法
- KS D 8519-2009(2015) 金屬和氧化物涂層涂層厚度的測量顯微鏡法
- KS D ISO 9220-2009(2017) 金屬鍍層鍍層厚度的測量掃描電子顯微鏡法
- KS D 0204-1982 鋼中非金屬雜質的含量測定.顯微鏡試驗方法
- KS D ISO 2128-2011(2016) 鋁及鋁合金陽極氧化陽極氧化膜厚度的測定分光顯微鏡無損檢測
- KS D ISO 2128-2011(2021) 鋁及鋁合金陽極氧化陽極氧化膜厚度的測定分光顯微鏡無損檢測
ZA-SANS，關于倒置顯微鏡金的標準
- SANS 144:1982 金屬和氧化物涂層．涂層厚度測量．顯微鏡法
- SANS 6154:2006 粒化冶金礦渣中的玻璃含量（透射式光學顯微鏡法）
國際標準化組織，關于倒置顯微鏡金的標準
- ISO 1463:2021 金屬和氧化物涂層 - 涂層厚度測量 - 顯微鏡法
- ISO 1463:1973 金屬和氧化物鍍層.鍍層厚度的測定.顯微鏡法
- ISO 1463:1982 金屬和氧化物鍍層.鍍層厚度的測定.顯微鏡法
- ISO 9220:1988 金屬覆蓋層 鍍層厚度測量 掃描電子顯微鏡法
- ISO 9220:2022 金屬涂層.涂層厚度的測量.掃描電子顯微鏡法
- ISO 1463:2003 金屬和氧化物覆蓋層.覆蓋層厚度的測定.顯微鏡法
- ISO/CD 20263:2023 微束分析 分析電子顯微鏡 層狀材料橫截面圖像中界面位置的確定方法
- ISO 20263:2017 微束分析 - 分析透射電子顯微鏡 - 分層材料橫截面圖像中界面位置的測定方法
- ISO 2128:2010 鋁和鋁合金的陽極氧化.陽極氧化膜厚度的測定.分光束顯微鏡無損測定法
- ISO 2128:1976 鋁和鋁合金的陽極氧化 陽極氧化膜厚度的測定 分光束顯微鏡無損測定法
YU-JUS，關于倒置顯微鏡金的標準
- JUS C.A6.031-1990 金屬和氧化物鍍層．鍍層厚度的測定．顯微鏡法
歐洲標準化委員會，關于倒置顯微鏡金的標準
- EN ISO 1463:1994 金屬和氧化物鍍層.鍍層厚度的測定.顯微鏡法
- EN ISO 1463:2021 金屬和氧化物鍍層.鍍層厚度的測定.顯微鏡法
- EN ISO 9220:2022 金屬覆蓋層.鍍層厚度測量.掃描電子顯微鏡法
- EN ISO 1463:2004 金屬和氧化物鍍層.鍍層厚度的測定.顯微鏡法 ISO 1463-2003
- EN ISO 9220:1994 金屬覆蓋層.鍍層厚度測量.掃描電子顯微鏡法(ISO 9220-1988)
- prEN ISO 9220:2021 金屬鍍層-鍍層厚度的測量-掃描電子顯微鏡法（ISO/DIS 9220:2021）
- EN ISO 2128:2010 鋁和鋁合金的陽極氧化.陽極氧化膜厚度的測定.分光束顯微鏡無損測定法
ES-UNE，關于倒置顯微鏡金的標準
- UNE-EN ISO 1463:2021 金屬和氧化物涂層 涂層厚度的測量 顯微鏡法
- UNE-EN ISO 9220:2022 金屬涂層 涂層厚度的測量 掃描電子顯微鏡方法
IT-UNI，關于倒置顯微鏡金的標準
- UNI 7604-1976 用復制品進行的金屬材料電子顯微鏡檢測．顯微照相檢測用復制品的準備
- UNI 7329-1974 使用復制品進行金屬材料的電子顯微鏡檢測．顯微結構檢測用復制品的準備
- UNI 6500-1969 鋁及其合金的陽機氧化作用內襯．通過光學顯微鏡測量內襯層厚度
CZ-CSN，關于倒置顯微鏡金的標準
- CSN ISO 1463:1993 金屬涂層和氧化涂層．涂層厚度測量．顯微鏡方法
美國材料與試驗協會，關于倒置顯微鏡金的標準
- ASTM D5061-07 冶金焦炭結構成分顯微鏡測定的標準測試方法
- ASTM D5061-19 冶金焦炭結構成分顯微鏡測定的標準測試方法
- ASTM B748-90(2006) 用掃描電子顯微鏡測量橫截面測定金屬涂層厚度的方法
- ASTM B748-90(1997) 用掃描電子顯微鏡測量橫截面測定金屬涂層厚度的方法
- ASTM B748-90(2010) 掃描電子顯微鏡測量橫截面測定金屬涂層厚度的標準試驗方法
- ASTM D5061-92(2004) 冶金焦中的結構構成的體積百分比的顯微鏡檢驗的標準試驗方法
- ASTM C1322-02a 高級陶瓷中斷裂點的金屬斷裂顯微鏡觀查和表征的標準實施規程
- ASTM C1322-02 高級陶瓷中斷裂點的金屬斷裂顯微鏡觀查和表征的標準實施規程
- ASTM B748-90(2021) 用掃描電子顯微鏡測量橫截面測量金屬涂層厚度的標準試驗方法
- ASTM E2564-18 用直接顯微鏡計數法（DMC）計數金屬加工液中分枝桿菌的標準實施規程
- ASTM B487-20 通過橫截面顯微鏡檢查測量金屬和氧化物涂層厚度的標準測試方法
- ASTM B748-90(2016) 通過用掃描電子顯微鏡測量橫截面來測量金屬涂層厚度的試驗方法
- ASTM B487-85(1997) 通過橫截面的顯微鏡檢查測量金屬和氧化物涂層厚度的標準試驗方法
- ASTM B748-90(2001) 通過掃描電子顯微鏡測量橫截面來測量金屬涂層厚度的標準測試方法
- ASTM E2564-13 用直接顯微鏡計數(DMC)法進行金屬加工液中分支桿菌計數的標準實施規程
- ASTM E2564-07 用直接顯微鏡計數(DMC)法進行金屬加工液中分支桿菌計數的標準試驗方法
德國機械工程師協會，關于倒置顯微鏡金的標準
- DVS 2310-1-1984 金相切片制作及熱噴涂層光學顯微鏡評價指導
- VDI/VDE 2655 Blatt 1.2-2010 微形貌的光學測量 共焦顯微鏡的校準和粗糙度測量的深度設置標準
- DVS 2310-2-1989 制作金相切片和在光學顯微鏡下評估熱噴涂涂層的說明；常見噴涂層示例
美國國防部標準化文件（含MIL標準），關于倒置顯微鏡金的標準
- DOD A-A-54222-1990 帶電水浴室(顯微鏡用薄片切片機薄紗樣本部分裝置)
行業標準-公共安全標準，關于倒置顯微鏡金的標準
- GA/T 1938-2021 法庭科學 金屬檢驗 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法
行業標準-核工業，關于倒置顯微鏡金的標準
- EJ/T 20176-2018 金剛石刀具刃口鋒利度的原子力顯微鏡測量方法
AT-ON，關于倒置顯微鏡金的標準
- OENORM EN ISO 1463:2021 金屬和氧化物涂層 涂層厚度的測量 顯微鏡法（ISO 1463:2021）
- OENORM EN ISO 9220:2021 金屬鍍層-鍍層厚度的測量-掃描電子顯微鏡法（ISO/DIS 9220:2021）
CH-SNV，關于倒置顯微鏡金的標準
- SN EN ISO 1463:2021 金屬和氧化物涂層 涂層厚度的測量 顯微鏡法（ISO 1463:2021）
- VSM 23890-1971 鋁和鋁合金的陽極處理．橫截面厚度的顯微鏡檢驗法測定
- VSM 34130-1934 鋁及鋁合金陽極氧化．陽極氧化膜厚度的測定．用分束顯微鏡作無損測量
- VSM 18653.1-1965 鋁及鋁合金陽極氧化．陽極氧化膜厚度的測定．用分束顯微鏡作無損測量
行業標準-商品檢驗，關于倒置顯微鏡金的標準
- SN/T 2731-2010 非金屬礦中石棉的定性方法 X射線衍射-顯微鏡觀察法
NO-SN，關于倒置顯微鏡金的標準
- NS 1181-1979 金屬和氧化物涂層 通過橫截面的顯微鏡檢查測量厚度
行業標準-輕工，關于倒置顯微鏡金的標準
- QB/T 3817-1999 輕工產品金屬鍍層和化學處理層的厚度測試方法.金相顯微鏡法
中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會，關于倒置顯微鏡金的標準
- GB/T 34168-2017 金、銀納米顆粒材料生物效應的透射電子顯微鏡檢測方法
- GB/T 34831-2017 納米技術 貴金屬納米顆粒電子顯微鏡成像 高角環形暗場法
BE-NBN，關于倒置顯微鏡金的標準
- NBN EN ISO 9220:1995 金屬保護層．保護層厚度的測定：使用電子掃描顯微鏡（ISO 9220-1988）
(美國)軍事條例和規范，關于倒置顯微鏡金的標準
- ARMY MIL-HDBK-790 CHG NOTICE 2-1993 金屬斷面的顯微鏡觀察和在先進建筑陶瓷中的斷裂源描述
日本工業標準調查會，關于倒置顯微鏡金的標準
- JIS H 8680-1:1998 鋁和鋁合金陽極氧化涂層厚度的試驗方法.第1部分:顯微鏡法
VN-TCVN，關于倒置顯微鏡金的標準
- TCVN 5876-1995 鋁及鋁合金陽極氧化.采用分光束顯微鏡法測定陽極氧化膜厚度
美國國家標準學會，關于倒置顯微鏡金的標準
- ANSI/ASTM E2564:2013 通過直接顯微鏡計數(DMC)法進行金屬加工流體中分支桿菌計數的試驗方法
