ISO/TS 21383:2021
微束分析.掃描電子顯微鏡.定量測量用掃描電子顯微鏡的鑒定
Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Qualification of the scanning electron microscope for quantitative measurements
ISO/TS 21383:2021相似標準
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SEM，EDS，XRD的區別
SEM，EDS，XRD的區別，SEM是掃描電鏡，EDS是掃描電鏡上配搭的一個用于微區分析成分的配件——能譜儀。能譜儀(EDS,Energy Dispersive Spectrometer)是用來對材料微區成分元素種類與含量分析，配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。XRD是X射線衍射儀，是用于物相分析的檢測設備。...
掃描電子顯微鏡精心合理的設計
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掃描電子顯微鏡具體功能用途歸納如下：?? 1、掃描電鏡追求固體物質高分辨的形貌，形態圖像(二次電子探測器SEI)-形貌分析(表面幾何形態，形狀，尺寸)?? 2、顯示化學成分的空間變化，基于化學成分的相鑒定---化學成分像分布，微區化學成分分析? ?? 1)用x射線能譜儀或波譜(EDSorWDS)采集特征x射線信號，生成與樣品形貌相對應的，元素面分布圖或者進行定點化學成分定性定量分析，相鑒定。? ??...
掃描電子顯微鏡用途
掃描電子顯微鏡具體功能用途歸納如下：1、掃描電鏡追求固體物質高分辨的形貌，形態圖像(二次電子探測器SEI)-形貌分析(表面幾何形態，形狀，尺寸)2、顯示化學成分的空間變化，基于化學成分的相鑒定---化學成分像分布，微區化學成分分析1)用x射線能譜儀或波譜(EDSorWDS)采集特征x射線信號，生成與樣品形貌相對應的，元素面分布圖或者進行定點化學成分定性定量分析，相鑒定。...