IEC 60749-28:2017
半導體器件. 機械和氣候試驗方法. 第28部分: 靜電放電(ESD)靈敏度試驗. 帶電器件模型(CDM). 器件級

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level

被代替

IEC 60749 的這一部分建立了根據器件和微電路暴露于定義的場感應帶電器件模型 (CDM) 靜電放電 (ESD) 造成損壞或退化的敏感性（敏感性）來測試、評估和分類器件和微電路的程序。所有封裝半導體器件、薄膜電路、表面聲波 (SAW) 器件、光電器件、混合集成電路 (HIC) 以及包含任何這些器件的多芯片模塊 (MCM) 均應根據本文件進行評估。為了執行...

IEC 60749-28:2017半導體器件. 機械和氣候試驗方法. 第28部分: 靜電放電(ESD)靈敏度試驗. 帶電器件模型(CDM). 器件級

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level

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半導體器件. 機械和氣候試驗方法. 第28部分: 靜電放電(ESD)靈敏度試驗. 帶電器件模型(CDM). 器件級