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  • KS D 2716-2008
    納米粒子的直徑測量技術.透射電子顯微鏡

    Measurement of nanoparticle diameter-Transmission electron microscope


    KS D 2716-2008 中,可能用到以下儀器設備

     

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    JEM-2100 透射電子顯微鏡

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    標準號
    KS D 2716-2008
    發布
    2008年
    發布單位
    韓國科技標準局
    替代標準
    KS D 2716-2008(2018)
    當前最新
    KS D 2716-2023
     
     
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    KS D 2716-2008 中可能用到的儀器設備





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