ASTM E2445/E2445M-14
計算機射線照相系統資格和長期穩定性的標準實施規程

Standard Practice for Performance Evaluation and Long-Term Stability of Computed Radiography Systems

被代替

標準號

ASTM E2445/E2445M-14

發布

2014年

發布單位

美國材料與試驗協會

替代標準

ASTM E2445/E2445M-20

當前最新

ASTM E2445/E2445M-20

 

 

引用標準

ASTM E1316 ASTM E1647 ASTM E2002 ASTM E2007 ASTM E2033 ASTM E2446 ASTM E746

適用范圍

1.1 存儲熒光成像板 (IP) 類型和制造商，4.1.2 讀出單元（掃描儀或讀取器）制造商和型號，包括適用的掃描儀設置（例如采樣分辨率、PMT增益、像素值（PV）查找表等）、4.1.3 圖像采集和處理軟件以及4.1.4 圖像顯示監視器。 4.2 值得注意的是，CR系統已經由用戶根據當前的檢驗需求從制造商處選擇和購買。用戶應根據制造商在特定 CR 掃描儀上的 E2446 實踐結果來接受 CR 掃描儀，如序列化 CR 掃描儀的數據表中提供的或用戶和制造商之間商定的其他驗收測試（本協議未涵蓋）實踐）。此做法無意用作“驗收測試”； CR 系統的目的，而是建立一個性能基線，以便在使用時進行跟蹤。
4.3 雖然本標準中列出的許多特性與 E2446 中的度量標準相似，但數據收集方法并不相同，并且不應對每個標準獲取的值進行比較。 4.4 本實踐定義了要執行的測試和所需的時間間隔。還定義了 CR 用戶將按照 CR 系統基線完成的結果制表方法。這些測試還將按照規定的要求間隔定期進行，以評估 CR 系統，以確定系統是否保持在本實踐中建立的可接受的操作限制內。 4.5 影響CR圖像的圖像質量的因素有多種。取決于 CR 系統性能的因素包括基本空間分辨率、相對對比度和信噪比 (SNR)，從而產生對比靈敏度 (CS) 和等效穿透計靈敏度 (EPS)。還有幾個其他因素取決于 CR 系統的運行情況（即，由于正常磨損、維護不足、設置/校準不當等造成的），例如打滑、激光抖動、幾何變形等。這些測試中未評估與特定應用相關的其他因素（例如幾何不清晰度、散射等）。
1.1 本實踐描述了工業放射學計算機放射學 (CR) 系統的評估。其目的是確保圖像質量的評估（只要受CR系統影響）滿足該標準的用戶及其客戶的需求，并實現CR系統的過程控制和長期穩定性。

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