ASTM E2445-05(2010)
計算機射線照相系統的長期穩定性與鑒定方法的標準操作規程

Standard Practice for Qualification and Long-Term Stability of Computed Radiology Systems

被代替

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標準號

ASTM E2445-05(2010)

發布

2005年

發布單位

美國材料與試驗協會

替代標準

ASTM E2445/E2445M-14

當前最新

ASTM E2445/E2445M-20

 

 

適用范圍

影響 CR 圖像質量的因素有很多，包括 IP 系統的空間分辨率、幾何不清晰度、散射和對比敏感度（信號/噪聲比）。還有幾個其他因素（例如掃描參數）會影響使用光學掃描儀準確讀取暴露的 IP 上的圖像。質量因素可以通過 CR 設備制造商測試最準確地確定，如實踐 E2446 中所述。描述了推薦用于實際用戶測試的單獨測試目標，以保證質量。這些測試可以單獨進行，也可以使用 CR 體模（附錄 X1）進行。該 CR 模型包含許多基本質量評估方法以及與 CR 系統正確運行相關的方法，包括掃描儀，用于讀取曝光的印版并錯誤地擦除 IP，以便將來使用每個印版。此做法適用于工業 CR 系統的用戶。此實踐定義了 CR 系統的用戶定期執行的測試，以評估 CR 系統，以證明在系統的生命周期內具有適當的性能。各種測試和測試方法的應用 維修、升級或使用其他 IP 類型后的測試：由于 CR 掃描儀的維修或升級以及改進的 IP 等修改可能會改善系統的功能，因此需要專門的測試來證明CR 系統的正常性能。長期穩定性的用戶測試8212；測試實驗室的質量保證需要對 CR 系統進行定期測試，以證明系統的正確性能。該時間間隔取決于系統的使用程度，并且應由用戶并考慮CR設備制造商的信息來定義。
6.2.1 至 6.2.6 中描述的測試需要使用 5.1 的質量指標，或者應按用戶定義的時間間隔定期使用 CR 測試模型來測試基本性能。文件應包含：(1) 空間分辨率（通過雙工線方法，可選的會聚線對），(2) 對比度（待檢查材料的公認對比度百分比），(3) 滑動（是/否），(4 ) 抖動（是/否），(5) 陰影（選定距離的百分比），(6) 所執行測試的輻射參數，以及 (7) 日期和操作員姓名。僅當在沒有 CR 設備制造商提供數據的情況下更換掃描儀或 IP 品牌，或者系統在極端（超出制造商建議）溫度條件下使用時，才應執行褪色測試。在曝光和掃描之間的預期時間內，褪色應低于 50%。應檢查 IP 是否存在偽影 (6.2.7) 并進行適當的擦除 (6.2.6)。掃描儀中 IP 或光電倍增管的退化可能會在大量使用后降低系統靈敏度。因此，用戶或服務人員應以較長的時間間隔（例如每年一次）測量SNR。信噪比不應低于原值的90%。如果系統不清晰度不增加，則可以無限制地接受信噪比的增加。
1.1 本實踐規定了計算機射線照相系統的基本參數，以確保無損檢測獲得滿意且可重復的結果。
1.2 這個……

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