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IEC 62132-8:2012
集成電路.電磁抗擾度的測量.第8部分:輻射抗擾度測量.集成電路(IC)電介質條狀線法

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 8: Measurement of radiated immunity - IC Stripline method

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標準號: IEC 62132-8:2012
發布: 2012年
總頁數: 50頁
發布單位: 國際電工委員會
當前最新: IEC 62132-8:2012

被代替標準: IEC 47A/882/FDIS:2012

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