IEC 62132-8:2012
集成電路.電磁抗擾度的測量.第8部分:輻射抗擾度測量.集成電路(IC)電介質條狀線法

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 8: Measurement of radiated immunity - IC Stripline method

IEC 62132-8:2012 發布歷史

IEC 62132-8:2012由國際電工委員會 IX-IEC 發布于 2012-07。

IEC 62132-8:2012 在中國標準分類中歸屬于: L06 電磁兼容，在國際標準分類中歸屬于: 31.200 集成電路、微電子學,33.100.20 抗擾度。

IEC 62132-8:2012 集成電路.電磁抗擾度的測量.第8部分:輻射抗擾度測量.集成電路(IC)電介質條狀線法的最新版本是哪一版？

最新版本是 IEC 62132-8:2012 。

IEC 62132-8:2012的歷代版本如下：

• 2012年 IEC 62132-8:2012 集成電路.電磁抗擾度的測量.第8部分:輻射抗擾度測量.集成電路(IC)電介質條狀線法

標準號

IEC 62132-8:2012

發布

2012年

總頁數

50頁

發布單位

國際電工委員會

當前最新

IEC 62132-8:2012

 

 

被代替標準

IEC 47A/882/FDIS:2012

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