X射線熒光(XRF)光譜學是一種用于確定材料元素組成的非破壞性分析技術。XRF分析儀的工作原理是測量樣本在被初級X射線源激發時發出的熒光(或次級)X射線。樣本含有的每一種元素都會產生一組特征性熒光X射線，或獨特的“指紋”。每種元素產生的“指紋”各不相同，使XRF分析成為定量和定性測量的絕佳工具。(在鋼鐵制造中，XRF用于分析原材料、爐渣和合金。)...
涂層厚度的測量方法主要有楔切法、光學截斷法、電解法、厚度差測量法、稱重法、x射線熒光法、射線背散射法、電容法、磁性測量法和渦流測量法。前五種方法都是有損檢測，測量手段繁瑣、速度慢，更適合抽樣檢查。? EXF鍍層測厚儀采用X熒光分析技術，可測量各種金屬涂層的厚度，包括單層、雙層、多層、合金涂層等。EXF涂層測厚儀是一種能譜分析方法，屬于物理分析方法。...
對材料表面保護、裝飾形成的覆蓋層，如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學生成膜等，在有關國家和國際標準中稱為覆層（coating）。 ? ? ? 覆層厚度測量已成為加工工業、表面工程質量檢測的重要一環，是產品達到優等質量標準的必備手段。為使產品國際化，我國出口商品和涉外項目中，對覆層厚度有了明確的要求。 ? ? ? ?...
涂鍍層測厚儀根據測量原理一般有以下五種類型:?常規涂層測厚儀的原理 對材料表面保護、裝飾形成的覆蓋層，如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學生成膜等，在有關國家和國際標準中稱為覆層（coating）。 覆層厚度測量已成為加工工業、表面工程質量檢測的重要一環，是產品達到優等質量標準的必備手段。為使產品國際化，我國出口商品和涉外項目中，對覆層厚度有了明確的要求。 ...
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