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  • GB/T 2423.59-2008
    電工電子產品環境試驗.第2部分:試驗方法.試驗.Z/ABMFh:溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(隨機)綜合

    Environmental testing for electric and electronic products.Part 2:Test methods.Test Z/ABMFh:Combined temperature(cold and heat)/low air pressure/vibration(random)

    GBT2423.59-2008, GB2423.59-2008


    GB/T 2423.59-2008 中,可能用到以下儀器

     

    低氣壓(高海拔)模擬試驗箱

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    東莞市高升電子精密科技有限公司

     

    GS-DCGY10鋰電池高空低氣壓模擬試驗箱

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    東莞市高升電子精密科技有限公司

     

    低氣壓試驗箱

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    上海和晟儀器科技有限公司

     

    高度(低氣壓)試驗箱

    高度(低氣壓)試驗箱

    廣州市科唯儀器有限公司

     

    模擬高空低氣壓試驗箱

    模擬高空低氣壓試驗箱

    廣東德瑞檢測設備有限公司

     

    溫度濕度振動測試儀 三綜合環境試驗機

    溫度濕度振動測試儀 三綜合環境試驗機

    廣東德瑞檢測設備有限公司

     

    高海拔低氣壓模擬試驗箱

    高海拔低氣壓模擬試驗箱

    上海和晟儀器科技有限公司

     

    高原低氣壓試驗箱

    高原低氣壓試驗箱

    上海和晟儀器科技有限公司

     

    模擬高海拔低氣壓箱

    模擬高海拔低氣壓箱

    上海和晟儀器科技有限公司

     

    高空低氣壓模擬試驗箱

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    上海和晟儀器科技有限公司

     

    模擬高海拔低氣壓環境測試箱

    模擬高海拔低氣壓環境測試箱

    上海和晟儀器科技有限公司

     

    高海拔低氣壓模擬環境試驗箱

    高海拔低氣壓模擬環境試驗箱

    上海和晟儀器科技有限公司

     

    模擬高原低氣壓真空試驗箱

    模擬高原低氣壓真空試驗箱

    上海和晟儀器科技有限公司

     

    低氣壓模擬試驗箱

    低氣壓模擬試驗箱

    上海和晟儀器科技有限公司

     

    零下70℃低溫試驗箱 AP-DW-B

    零下70℃低溫試驗箱 AP-DW-B

    東莞市愛佩試驗設備有限公司

     

    綜合環境試驗箱

    綜合環境試驗箱

    廣州市科唯儀器有限公司

     

    溫濕度振動三綜合試驗箱

    溫濕度振動三綜合試驗箱

    北京宏展儀器有限公司

     

    合肥維修溫濕度振動綜合試驗箱廠家安徽奧科

    合肥維修溫濕度振動綜合試驗箱廠家安徽奧科

    安徽奧科試驗設備有限公司

     

    合肥供應溫濕度振動綜合試驗箱廠家安徽奧科

    合肥供應溫濕度振動綜合試驗箱廠家安徽奧科

    安徽奧科試驗設備有限公司

     

    溫濕度振動三綜合試驗箱  上門安裝維修

    溫濕度振動三綜合試驗箱 上門安裝維修

    安徽奧科試驗設備有限公司

     

    GB/T 2423.59-2008

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    標準號
    GB/T 2423.59-2008
    別名
    GBT2423.59-2008
    GB2423.59-2008
    發布
    2008年
    發布單位
    國家質檢總局
    當前最新
    GB/T 2423.59-2008
     
     
    引用標準
    GB/T 2422 GB/T 2423.1 GB/T 2423.2 GB/T 2423.21 GB/T 2423.26 GB/T 2423.43 GB/T 2423.56 GB/T 2424.1 GB/T 4796

    GB/T 2423的本部分規定了溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(隨機)綜合試驗的基本要求、嚴酷等級、試驗程序以及其他技術細則。 本部分適用于確定產品在溫度(低溫、高溫)、低氣壓和振動(隨機)綜合作用下的適應性。有溫度變化的綜合試驗可參考本部分。


    專題


    GB/T 2423.59-2008相似標準


    GB/T 2423.59-2008系列標準

    GB/T 2423.1-2008 電工電子產品環境試驗.第2部分:試驗方法.試驗A: 低溫 GB/T 2423.10-2019 環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fc: 振動(正弦) GB/T 2423.101-2008 電工電子產品環境試驗.第2部分:試驗方法.試驗:傾斜和搖擺 GB/T 2423.102-2008 電工電子產品環境試驗.第2部分:試驗方法.試驗:溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(正弦)綜合 GB/T 2423.11-1997 電工電子產品環境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fd: 寬頻帶隨機振動--一般要求 GB/T 2423.12-1997 電工電子產品環境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fda: 寬頻帶隨機振動--高再現性 GB/T 2423.13-1997 電工電子產品環境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fdb: 寬頻帶隨機振動--中再現性 GB/T 2423.14-1997 電工電子產品環境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fdc: 寬頻帶隨機振動--低再現性 GB/T 2423.15-2008 電工電子產品環境試驗.第2部分: 試驗方法.試驗Ga和導則: 穩態加速度 GB/T 2423.16-2022 環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗J和導則:長霉 GB/T 2423.17-2008 電工電子產品環境試驗.第2部分: 試驗方法.試驗Ka:鹽霧 GB/T 2423.18-2021 環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Kb:鹽霧,交變(氯化鈉溶液) GB/T 2423.19-2013 環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Kc:接觸點和連接件的二氧化硫試驗 GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環境試驗.第2部分:試驗方法.試驗B:高溫 GB/T 2423.20-2014 環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Kd:接觸點和連接件的硫化氫試驗 GB/T 2423.21-2008 電工電子產品環境試驗.第2部分:試驗方法.試驗M:低氣壓 GB/T 2423.22-2012 環境試驗.第2部分:試驗方法.試驗N:溫度變化 GB/T 2423.23-2013 環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Q:密封 GB/T 2423.24-2022 環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗S:模擬地面上的太陽輻射及太陽輻射試驗和氣候老化試驗導則 GB/T 2423.25-2008 電工電子產品 環境試驗.第2部分:試驗方法.試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗 GB/T 2423.26-2008 電工電子產品環境試驗.第2部分:試驗方法.試驗Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗 GB/T 2423.27-2020 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續綜合試驗 GB/T 2423.28-2005 電工電子產品環境試驗 第2部分;試驗方法 試驗T:錫焊 GB/T 2423.29-1999 電工電子產品環境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗U:引出端及整體安裝件強度 GB/T 2423.3-2016 環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cab:恒定濕熱試驗 GB/T 2423.30-2013 環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗XA和導則:在清洗劑中浸漬

    GB/T 2423.59-2008 中可能用到的儀器設備


    誰引用了GB/T 2423.59-2008 更多引用





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