GB/T 22462-2008
鋼表面納米、亞微米尺度薄膜.元素深度分布的定量測定.輝光放電原子發射光譜法
Nano,Sub-micron scale film on steel.Quantitative depth profile analysis.Glow discharge atomic emission spectrometry
GBT22462-2008, GB22462-2008
- 標準號
- GB/T 22462-2008
- 別名
- GBT22462-2008, GB22462-2008
- 發布
- 2008年
- 發布單位
- 國家質檢總局
- 當前最新
- GB/T 22462-2008
- 引用標準
- GB/T 19502 GB/T 20066 GB/T 22461-2008 GB/T 6379.1 GB/T 6379.2 ISO 5725-3 ISO 6955:1982
- 適用范圍
- 本標準采用輝光放電原子發射光譜法用于定量測定鋼表面納米、亞微米尺度薄膜（金屬鍍膜和氧化膜）中膜厚、鍍層質量（單位面積）和薄膜中的元素深度分布。 本方法適用于測定3nm~1000nm厚度的鋼表面薄膜，適用的元素包括：鐵、鉻、鎳、銅、鈦、錳、鋁、碳、磷、氧、氮和硅。
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