ASTM F1689-05
測定薄膜開關絕緣電阻的標準試驗方法

Standard Test Method for Determining the Insulation Resistance of a Membrane Switch

被代替

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標準號

ASTM F1689-05

發布

2005年

發布單位

美國材料與試驗協會

替代標準

ASTM F1689-05(2012)

當前最新

ASTM F1689-05(2020)

 

 

適用范圍

絕緣電阻對于設計驗證、材料質量控制和工藝很有用。絕緣電阻低會導致漏電流大。高泄漏電流可能導致絕緣惡化或相關輸入設備誤觸發，或兩者兼而有之。測試的具體領域包括但不限于：
3.4.1 導體/電介質/導體交叉點。
3.4.2 導體附近，以及 3.4.3 任何其他導電表面，例如屏蔽或金屬背板。絕緣電阻測量可能具有破壞性，經過測試的設備應被視為對未來使用不可靠。
1.1 本測試方法涵蓋薄膜開關絕緣電阻的測定。
1.2 本標準并不旨在解決所有安全問題，如果有的話，與其使用相關。本標準的使用者有責任在使用前建立適當的安全和健康實踐并確定監管限制的適用性。

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