ASTM F1663-95(2002)
測定薄膜開關電阻的標準試驗方法

Standard Test Method for Determining the Capacitance of a Membrane Switch

被代替

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標準號

ASTM F1663-95(2002)

發布

1995年

發布單位

美國材料與試驗協會

替代標準

ASTM F1663-09

當前最新

ASTM F1663-15

 

 

適用范圍

電容測試對于設計驗證、材料質量控制和工藝非常有用。高電容可能會干擾接口電子器件的可靠性能。測試的具體領域包括但不限于：
3.3.1 導體/電介質/導體交叉點， 3.3.2 導體的緊密接近，以及 3.3.3 任何其他導電表面，例如屏蔽或金屬背板。
1.1 本測試方法涵蓋了薄膜開關電容的確定。

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