找不到引用ASTM E280-98(2004)e1 的標準
達妮埃拉·平娜(Daniela? Pinna)PART.1分 類掃描電子顯微鏡 ( SEM ) 結合能量色散X射線光譜法 (energy dispersive X-ray spectroscopy, EDS/EDX) 為侵入式檢測技術,需做微取樣才能進行觀察與分析。但尺寸較小的待檢物也可置于樣品室內進行分析,這種情況下則可視為非侵入式檢測。微樣品或待檢物必須可耐受中度真空條件。...
顯微鏡無縫導航樣品,自動聚焦于感興趣的區域,快速實現高分辨率的SEM成像和分析。 實時分析 使用嵌入式能量色散X射線探測器(EDS),可以自動檢測并實時顯示EDS光譜和構成樣品的主要元素。 實時3D成像 除了實時SEM圖像,NeoScope還可以顯示樣品表面的實時3D圖像,包括樣品表面形貌和深度信息。 自動操作功能 基于樣品類型和應用的自動條件設置可確保高質量的結果并提高生產率。...
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