ASTM E1216-06
用膠帶提取法對表面微粒子污染取樣的標準規程

Standard Practice for Sampling for Particulate Contamination by Tape Lift

被代替

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標準號

ASTM E1216-06

發布

2006年

發布單位

美國材料與試驗協會

替代標準

ASTM E1216-11

當前最新

ASTM E1216-21

 

 

適用范圍

膠帶提升提供了一種快速而簡單的技術，用于從表面去除顆粒并確定其數量和尺寸分布。通過使用統計確定的樣本大小和位置，可以對大面積的表面清潔度水平進行估計。用戶應定義抽樣計劃。采樣計劃應考慮表面幾何形狀和表面方向對氣流、重力、障礙物和硬件歷史的重要性。這些因素影響顆粒沉降和顆粒在表面上的截留。可以維護接頭、凹陷區域、緊固件的幾何形狀以及顆粒計數數據與區域的對應關系。膠帶的選擇以及驗證其對硬件清潔度的影響非常重要。膠帶粘合劑應具有足夠的內聚力，以避免粘合劑轉移到測試表面。在硬件上使用膠帶之前，應通過實驗室測試評估粘合劑轉移的影響。由于存在粘合劑轉移的可能性，因此可能需要進行清潔以去除任何粘合劑。此外，膠帶應具有低釋氣特性，并且至少應滿足按測試方法 E 595 測量的總質量損失 (TML) 小于 1.0% 和收集的揮發性可冷凝材料 (CVCM) 小于 0.1% 的要求. 在決定應通過此做法測試哪些表面時應小心謹慎。膠帶可以去除輕微粘附的油漆和涂層。在確認表面涂層不會損壞之前，不應測試光學表面。粗糙的表面光潔度導致去除效率低。經過測試，表面光潔度達到約 3.20 米（125 英寸），結果令人滿意。這種做法僅在室溫下的表面上進行了測試。在室溫以外的表面上使用測試之前，必須評估溫度影響。只有具有顯微顆粒計數技術經驗的人員才能對顆粒進行計數和大小測定。
1.1 本實踐涵蓋了對表面進行采樣以確定是否存在 5 m 及更大顆粒污染的程序。該做法包括將壓敏膠帶粘貼到表面，然后通過去除膠帶去除顆粒污染物。然后將帶有粘附顆粒的膠帶安裝在計數載玻片上。顆粒的計數和測量是通過標準技術完成的。
1.2 本實踐描述了進行表面采樣以進行顆粒計數和尺寸測定所需的材料和設備。
1.3 接受或拒絕零件符合表面清潔度等級要求的標準應為由用戶確定，不包含在本實踐中。
1.4 本實踐適用于不會因粘貼膠帶而損壞的表面。不建議在之前未經測試或損壞敏感性未知的任何材料的任何表面上使用此做法。一般來說，金屬、金屬鍍層和氧化物涂層不會受到損壞。在實施此測試之前，應評估涂漆、氣相沉積和光學涂層的應用。
1.5 本實踐提供了三種評估膠帶剝離測試的方法，如下所示：部分實踐 A-此方法使用透過膠帶和膠帶粘合劑的光來檢測以下顆粒：堅持下去。4到6實踐B-此方法使用在粘合到基底微晶玻璃后透過膠帶粘合劑的光......

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