ASTM E1382-97
用半自動和自動圖象分析法測量平均粒度的標準測試方法

Standard Test Methods for Determining Average Grain Size Using Semiautomatic and Automatic Image Analysis

被代替

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標準號

ASTM E1382-97

發布

1997年

發布單位

美國材料與試驗協會

替代標準

ASTM E1382-97(2004)

當前最新

ASTM E1382-97(2023)

 

 

適用范圍

1.1 這些測試方法用于通過測量晶粒截距長度、截距計數、交叉計數、晶界長度和晶粒面積來確定晶粒尺寸。
1.2 這些測量是通過半自動數字化平板電腦或使用顯微鏡產生的晶粒結構圖像進行自動圖像分析來進行的。
1.3 這些測試方法適用于任何類型的晶粒結構或晶粒尺寸分布，只要晶粒邊界可以通過蝕刻和后續圖像處理（如果需要）清晰地描繪出來。
1.4 這些測試方法適用于其他粒狀微觀結構的測量，例如細胞結構。
1.5 本標準僅涉及推薦的測試方法，其中的任何內容均不應被解釋為定義或建立測試材料的可接受性或適用性的限制。
1.6 本標準并不旨在解決與其使用相關的所有安全問題（如果有）。本標準的使用者有責任在使用前建立適當的安全和健康實踐并確定監管限制的適用性。
1.7 各節按以下順序出現： 節 節范圍 1 參考文件 2 術語 3 定義 3.1 本標準特有術語的描述 3.2 符號 3.3 測試方法概述 4 意義和用途 5 干擾 6 儀器 7 取樣 8 測試樣品 9 樣品制備10 校準 11 程序：半自動數字化平板電腦 12 截距長度 12.3 截距和交叉計數 12.4 晶粒計數 12.5 晶粒面積 12.6 ALA 晶粒尺寸 12.6.1 兩相晶粒結構 12.7 程序：自動圖像分析 13 晶界長度 13.5 交叉計數 13.6 平均弦（截距）長度/場 13.7 單個弦（截距）長度 13.7.4 晶粒計數 13.8 平均晶粒面積/場 13.9 單個晶粒面積 13.9.4 ALA 晶粒尺寸 13.9.8 兩相晶粒結構 13.10 結果計算 14 測試報告 15精度和偏差 16 非等軸晶粒結構樣品的晶粒尺寸 A1 正確和不正確的晶界描繪示例 A2

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