IEC 60749-8:2002/COR2:2003
半導體器件.機械和環境試驗方法.第8部分:密封
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing
- 標準號
- IEC 60749-8:2002/COR2:2003
- 發布
- 2003年
- 發布單位
- 國際電工委員會
- 當前最新
- IEC 60749-8:2002/COR2:2003
- 適用范圍
- 本標準是半導體器件機械和氣候試驗方法第8部分：密封；勘誤1.
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