IEC 60749-8 Corrigendum 2-2003
半導體器件.機械和環境試驗方法.第8部分:密封

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing

非常抱歉，我們暫時無法提供預覽，您可以試試： 免費下載 IEC 60749-8 Corrigendum 2-2003 前三頁，或者稍后再訪問。

注意： 點擊下載后，生成下載文件時間比較長，請耐心等待......

標準號

IEC 60749-8 Corrigendum 2-2003

發布日期

2003年08月

實施日期

廢止日期

無

中國標準分類號

L40

國際標準分類號

31.080.01

發布單位

IX-IEC

適用范圍

This standard is Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing; Corrigendum 1.