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  • JEDEC JESD22A121.01-2005
    測量錫和錫合金表面須晶生長的試驗方法

    Test Method for Measuring Whisker Growth on Tin and Tin Alloy Surface Finishes


    標準號
    JEDEC JESD22A121.01-2005
    發布
    2005年
    發布單位
    (美國)固態技術協會,隸屬EIA
     
     
    適用范圍
    電子元件的主要端子表面處理是錫鉛合金。隨著行業向無鉛元件和組裝工藝發展,主要的端子表面處理材料將是純錫和錫合金,包括錫鉍和錫銀。

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