PAS 62483-2006
測量錫和錫合金表面光潔度上晶須生長的試驗方法（1.0 版）

Test method for measuring whisker growth on tin and tin alloy surface finishes (Edition 1.0)

標準號

PAS 62483-2006

發布

2006年

發布單位

IEC - International Electrotechnical Commission

 

 

適用范圍

本文件中介紹的方法@工藝流程參見附件A@適用于研究主要含有錫 (Sn) 的飾面中錫晶須的生長。該測試方法可能不足以滿足有特殊要求的應用，例如軍事或航空航天。附加要求可以在適當的要求文件中指定。本 PAS 的目的是：??提供一套行業標準化的測試套件，用于測量和比較不同電鍍或表面處理化學品和工藝的晶須傾向。為錫晶須檢查提供一致的檢查協議。提供標準的報告格式。

專題

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