EJ/T 1204.2-2006
電離輻射測量探測限和判斷閾的確定 第2部分:考慮樣品處理影響的計數測量
Determination of the detection limit and decision threshold for ionizing radiation measurements Part 2: Counting measurements with allowance for the influence of sample treatment
EJ/T 1204.2-2006 發布歷史
本部分使用統計學方法規定了兩個表征著給定錯誤概率的統計值，用以評估考慮、樣品處理影響的電離輻射測量中的探測能力。 本部分適用于考慮樣品處理影響的計數測量。
EJ/T 1204.2-2006由行業標準-核工業 CN-EJ 發布于 2006-12-15，并于 2007-05-01 實施。
EJ/T 1204.2-2006 在中國標準分類中歸屬于: Z33 放射性物質與放射強度分析測試方法，在國際標準分類中歸屬于: 27.120 核能工程。
EJ/T 1204.2-2006 發布之時，引用了標準
- GB/T 3358.1 統計學詞匯及符號 第1部分:一般統計術語與用于概率的術語*， 2009-10-15 更新
- GB/T 3358.2 統計學詞匯及符號.第2部分:應用統計*， 2009-10-15 更新
- GB/T 3358.3 統計學詞匯及符號 第3部分:實驗設計*， 2009-10-15 更新
* 在 EJ/T 1204.2-2006 發布之后有更新，請注意新發布標準的變化。
EJ/T 1204.2-2006的歷代版本如下：
- 2006年12月15日 EJ/T 1204.2-2006 電離輻射測量探測限和判斷閾的確定 第2部分:考慮樣品處理影響的計數測量
- 標準號
- EJ/T 1204.2-2006
- 發布日期
- 2006年12月15日
- 實施日期
- 2007年05月01日
- 廢止日期
- 無
- 中國標準分類號
- Z33
- 國際標準分類號
- 27.120
- 發布單位
- 行業標準-核工業
- 引用標準
- GB/T 3358.1 GB/T 3358.2 GB/T 3358.3
- 適用范圍
- 本部分使用統計學方法規定了兩個表征著給定錯誤概率的統計值，用以評估考慮、樣品處理影響的電離輻射測量中的探測能力。 本部分適用于考慮樣品處理影響的計數測量。
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