EJ/T 1204.3-2006
電離輻射測量探測限和判斷閾的確定 第3部分:忽略樣品處理影響的高分辨率γ能譜法計數測量
Determination of the detection limit and decision threshold for ionizing radiation measurements Part 3: Counting measurements by high resolution gamma spectrometry, neglecting the influence of sample treatment
EJT1204.3-2006, EJ1204.3-2006
- 標準號
- EJ/T 1204.3-2006
- 別名
- EJT1204.3-2006, EJ1204.3-2006
- 發布
- 2006年
- 發布單位
- 行業標準-核工業
- 當前最新
- EJ/T 1204.3-2006
- 引用標準
- GB/T 3358.1 GB/T 3358.2 GB/T 3358.3
- 適用范圍
- 本部分規定了兩個表征給定錯誤概率的統計值，用以在不考慮樣品處理的影響的情況下，利用高分辨率γ能譜法進行電離輻射測量中，對探測能力進行評估。 本部分適用于利用高分辨率γ能譜進行計數測量時探測限和判斷闕的確定。
EJ/T 1204.3-2006相似標準
推薦
γ測量方法
因此，反符合電路輸出的只是介于上、下甄別閾電壓之間的脈沖（3、5、8號脈沖），然后進行計數和記錄。上、下甄別閾電壓的差值稱為道寬。道寬固定以后，通過調節下甄別閾電壓（上甄別閾電壓相應地變化），可把幅度不等的脈沖逐段分選出來，這種脈沖幅度分析方法稱為微分測量。所測得的譜線稱為微分譜。...
能譜圖分析
下面為自然本底和康普頓散射本底。l和h道之間的總計數減去本底，即為全能峰面積（斜線部分）。核輻射場與放射性勘查式中：yi為譜峰內第i道的計數率；l為譜峰的左邊道數；h為譜峰的右邊道數。TPA法的優點是計算簡便。但取峰位道址較寬，而且按直線扣除本底，容易受本底變化影響。因為其他高能射線的康普頓散射，可能不規則地進入本底，并非構成直線。...
X射線能譜定性分析
X射線能譜定性分析快速有效，是電子探針和掃描電鏡分析必須的組成部分。用X射線能譜儀測量試樣特征X射線全譜中各譜峰的能量值，計算機釋譜得出試樣的元素組成。X射線能譜定性分析要注意背景的判別、峰的位移、峰的重疊、逃逸峰、二倍峰、和峰和其他干擾峰等問題，以免導致錯誤的分析結果。(1)背景的判別在使用X射線波譜儀時，偏離峰位對峰兩側的強度進行測量，用內插法估計出重疊在峰上的背景值。...
放射性同位素的應用-同位素示蹤法（二）
2.放射性同位素測量方法的選擇 測量方法的選擇取決于射線種類，對于α射線通常可用硫化鋅晶體、電離室、核乳膠等方法探測；對能量高的β射線可用云母窗計數管、塑料閃爍晶體及核乳膠測定，對于能量低的β射線可用液體閃爍計數器測量：對于γ射線則用G-M計數管，碘化鈉（鉈）閃爍晶體探測。目前大多數實驗室主要采用晶體閃爍計數法和液體閃爍計數法兩種測量方式。 ...