BS EN 62132-4:2006
集成電路.電磁抗擾度的測量.150kHz～1GHz.直接射頻功率注入法
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - 150 kHz to 1 GHz - Direct RF power injection method
- 標準號
- BS EN 62132-4:2006
- 發布
- 2006年
- 發布單位
- 英國標準學會
- 當前最新
- BS EN 62132-4:2006
- 引用標準
- CISPR 16-1-2-2003 IEC 61000-4-6 IEC 61967-4 IEC 62132-1-2006
- 被代替標準
- 02/208194 DC-2002
- 適用范圍
- IEC 62132 的這一部分描述了一種在存在傳導射頻干擾（例如由輻射射頻干擾引起）的情況下測量集成電路 (IC) 抗擾度的方法。 該方法保證了抗擾度測量的高度可重復性和相關性。 該標準為評估在無用射頻電磁波環境中運行的設備中使用的半導體器件建立了共同基礎。
BS EN 62132-4:2006相似標準
NF C96-261-4*NF EN 62132-4:2006 集成電路 150kHz～1GHz電磁抗擾度的測量 第4部分：直接射頻功率注入法
IEC 62132-4:2006 集成電路.150kHz-1GHz電磁抗擾度的測量.第4部分:直接射頻功率注入法
DIN EN 62132-4:2006 集成電路.150kHz-1GHz電磁抗擾度的測量.第4部分:直接射頻功率注入法(IEC 62132-4-2006)
EN 62132-4:2006 集成電路.150kHz至1GHz電磁抗擾度的測量.第4部分:直接射頻功率注入法 IEC 62132-4:2006
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