點擊查看大圖
IEC 62132 的這一部分描述了一種在存在傳導射頻干擾(例如由輻射射頻干擾引起)的情況下測量集成電路 (IC) 抗擾度的方法。 該方法保證了抗擾度測量的高度可重復性和相關性。 該標準為評估在無用射頻電磁波環境中運行的設備中使用的半導體器件建立了共同基礎。
Copyright ?2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved 京ICP備07018254號 京公網安備1101085018 電信與信息服務業務經營許可證:京ICP證110310號