SN/T 2004.4-2006
電子電氣產品中鉛、鎘、鉻、汞的測定.第4部分:電感耦合等離子體原子發射光譜法
Determination of Lead, Cadmium, Chromium and Mercury in electrical and electronic equipments - Part 4: Inductively coupled plasma atomic emission spectrometric method
SNT2004.4-2006, SN2004.4-2006
- 標準號
- SN/T 2004.4-2006
- 別名
- SNT2004.4-2006, SN2004.4-2006
- 發布
- 2006年
- 發布單位
- 行業標準-商品檢驗
- 當前最新
- SN/T 2004.4-2006
- 引用標準
- GB/T 10725 GB/T 602 GB/T 6682-1992 JJG 015-1996
- 適用范圍
- 本部分規定了電感耦合等離子體原子發射光譜法(ICP-AES)測定電子電氣產品聚合物(聚四氟乙烯除外)、金屬材料、電子元器件中鉛(Pb)，鎘(Cd)，鉻(Cr)和汞(Hg)的方法。 本部分適用于電子電氣產品聚合物(聚四氟乙烯除外)、金屬材料、電子元器件中鉛(Pb)，鎘(Cd)，鉻(Cr)和汞(Hg)的測定，各元素的檢出限如表1所示。
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