DIN 50438-2:1982
半導體工藝材料的檢驗.第2部分:用紅外線吸收法測量硅中雜質含量.碳

Testing of materials for semiconductor technology; determination of impurty content in silicon by infrared absorption; carbon

作廢

標準號: DIN 50438-2:1982
發布: 1982年
發布單位: 德國標準化學會
當前最新: DIN 50438-2:1982

適用范圍: 半導體技術材料測試；紅外吸收法測定硅中雜質含量；半導體技術的碳材料測試；硅中雜質含量的測定

硅片中體金屬雜質檢測半導體設備金屬雜質含量吸收紫外的半導體材料超強吸收紅外線的材料

DIN 50438-2:1982相似標準

DIN 50438-1:1995 半導體工藝材料檢驗.用紅外吸收法測量硅的雜質含量.第1部分:氧 DB64/T 1829.1-2022 寧夏“六新”產業高質量發展標準體系第1部分：新型材料 T/NXCL 016-2022 200 mm重摻銻直拉硅單晶拋光片 T/NXCL 017-2022 300 mm重摻磷直拉硅單晶拋光片 GB/T 12963-2022 電子級多晶硅

快速了解硅氧的吸收峰

-1-1995 半導體工藝材料檢驗.用紅外吸收法測量硅的雜質含量.第1部分:氧標準鏈接：http://www.bjwxdh.net/standard/sp/169888.html...

工信部發布第四批行業標準制修訂計劃涉ICP-MS、HPLC等

輝光放電質譜法推薦制定20202018-2054T-YS貴金屬高純銥化學分析方法雜質元素含量的測定輝光放電質譜法推薦制定20202018-2056T-YS半導體材料硅碳復合負極材料化學分析方法第1部分：硅含量的測定重量法和分光光度法推薦制定20202018-2057T-YS半導體材料硅碳復合負極材料化學分析方法第2部分：碳含量的測定高頻加熱紅外吸收法推薦制定20202018-2058T-YS...

544項推薦性國家標準公布涉ICP、氣相、離子色譜法等

2022年第21號中國國家標準公告　　以下是部分與科學儀器及分析檢測相關的標準：　　紡織品定量化學分析第4部分：某些蛋白質纖維與某些其他纖維的混合物(次氯酸鹽法），　　炭黑第29部分：溶劑可萃取物的測定，　　錳鐵、錳硅合金、氮化錳鐵和金屬錳硫含量的測定 紅外線吸收法和燃燒中和滴定法，　　飼料中粗纖維的含量測定，　　金精礦化學分析方法第7部分：鐵量的測定，　　金精礦化學分析方法第8部分：鐵量的測定...

工信部公示熱分析儀器等一批標準

YB/T 4582.10-2016氮化硅鐵 ?碳含量的測定 ?紅外線吸收法本部分規定了采用紅外線吸收法測定碳含量。本部分適用于氮化硅鐵中碳含量測定，測定范圍（質量分數）：0.025 %～0.400%。　...

DIN 50438-2:1982
半導體工藝材料的檢驗.第2部分:用紅外線吸收法測量硅中雜質含量.碳

Testing of materials for semiconductor technology; determination of impurty content in silicon by infrared absorption; carbon

專題

DIN 50438-2:1982相似標準

推薦

快速了解硅氧的吸收峰

工信部發布第四批行業標準制修訂計劃涉ICP-MS、HPLC等

544項推薦性國家標準公布涉ICP、氣相、離子色譜法等

工信部公示熱分析儀器等一批標準

誰引用了DIN 50438-2:1982 更多引用

DIN 50438-2:1982半導體工藝材料的檢驗.第2部分:用紅外線吸收法測量硅中雜質含量.碳

Testing of materials for semiconductor technology; determination of impurty content in silicon by infrared absorption; carbon

專題

DIN 50438-2:1982相似標準

推薦

快速了解硅氧的吸收峰

工信部發布第四批行業標準制修訂計劃 涉ICP-MS、HPLC等

544項推薦性國家標準公布 涉ICP、氣相、離子色譜法等

工信部公示熱分析儀器等一批標準

誰引用了DIN 50438-2:1982 更多引用

DIN 50438-2:1982
半導體工藝材料的檢驗.第2部分:用紅外線吸收法測量硅中雜質含量.碳

工信部發布第四批行業標準制修訂計劃涉ICP-MS、HPLC等

544項推薦性國家標準公布涉ICP、氣相、離子色譜法等