ASTM E3084-17(2022)e1
用非電離能量損失（NIEL）表征材料粒子輻照的標準實施規程

Standard Practice for Characterizing Particle Irradiations of Materials in Terms of Non-Ionizing Energy Loss (NIEL)

標準號

ASTM E3084-17(2022)e1

發布

2022年

發布單位

美國材料與試驗協會

當前最新

ASTM E3084-17(2022)e1

 

 

引用標準

ASTM E170 ASTM E521 ASTM E693 ASTM E722

適用范圍

1.1 本實踐描述了用非電離能量損失（NIEL）來表征材料粒子輻照的程序。 NIEL 在已發表的文獻中用于表征帶電粒子和中性粒子輻照。
1.2 雖然本實踐中描述的方法適用于位移橫截面已知的任何粒子和目標材料（參見實踐 E521），但本實踐旨在用于觀察到的損傷效應可能與原子位移相關的輻照。電子和光子材料中的某些（但不是全部）輻射效應確實如此。
1.3 與此類似的程序用于計算帶電粒子輻照（見實踐 E521）或中子輻照（見實踐 E693）中的每原子位移（dpa）。
1.4 提供了 NIEL 計算 dpa 的指南。
1.5 與此相關的程序用于計算電子材料中的 1-MeV 等效中子注量（參見實踐 E722），但在該實踐中，包括基于觀察到的損傷效應的相關性的損傷效率的概念。
1.6 提供了將硅中的 NIEL 轉換為硅中的單能中子注量的指南（參見實踐 E722），反之亦然。
1.7 本標準的應用需要了解相互作用導致位移損傷的粒子注量和能量分布。
1.8 輻射效應數據的相關性不屬于本標準的范圍。對硅中的位移損傷效應及其與 NIEL 的相關性的全面審查 (1)2 提供了適用于半導體材料和電子設備的適當指導。
1.9 本國際標準是根據世界貿易組織貿易技術壁壘（TBT）委員會發布的《關于制定國際標準、指南和建議的原則的決定》中確立的國際公認的標準化原則制定的。

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