ASTM E722-19
電子設備輻射硬度試驗用等效單能中子注量表征中子注量譜的標準實施規程
Standard Practice for Characterizing Neutron Fluence Spectra in Terms of an Equivalent Monoenergetic Neutron Fluence for Radiation-Hardness Testing of Electronics
- 標準號
- ASTM E722-19
- 發布
- 2019年
- 發布單位
- 美國材料與試驗協會
- 當前最新
- ASTM E722-19
- 引用標準
- ASTM E170 ASTM E265 ASTM E3084 ASTM E693 ASTM E720 ASTM E721 ASTM E844 ASTM E944
- 適用范圍
- 1.1 本實踐涵蓋了用等效單能中子注量來表征源中子注量的程序。它適用于中子效應測試、測試規范的制定以及中子測試環境的表征。這些源可以具有寬的中子能量范圍，或者可以是能量高達20MeV的單能中子源。這種做法不適用于位移損傷的主要來源是能量低于 10 keV 的中子的情況。相關等效性是指對源光譜所入射的材料的某些物理特性的特定影響。為了實現這一目標，需要了解中子作為能量函數對感興趣材料的特定性質的影響。在單能源的情況下，中子能量效應的急劇變化可能會限制這種做法的有用性。
1.2 本實踐以普遍適用于各種材料和來源的方式呈現。由不同粒子（電子、中子、質子和重離子）引起的位移 (1-3)2 之間的相關性超出了本實踐的范圍，但在實踐 E3084 中得到了解決。在電子半導體器件的輻射硬度測試中，感興趣的特定材料包括硅和砷化鎵，中子源通常是測試和研究反應堆以及锎252輻照器。
1.3 所涉及的技術依賴于以下因素：(1) 詳細確定中子源注量譜，以及 (2) 了解中子的退化（損壞）效應作為能量對特定材料特性的函數。
1.4 1.3 中提到的中子注量譜的詳細測定不需要對每次試驗暴露重新進行，只要暴露條件是可重復的。當不重復進行能譜測定時，每次試驗暴露均應使用中子注量監測儀。
1.5 以 SI 單位表示的值應被視為標準值。除 MeV、keV、eV、MeV·mbarn、rad(Si)·cm2 和 rad(GaAs)·cm2 外，本標準中不包含其他測量單位。
1.6 本標準并不旨在解決與其使用相關的所有安全問題（如果有）。本標準的使用者有責任建立適當的安全、健康和環境實踐，并在使用前確定監管限制的適用性。
1.7 本國際標準是根據世界貿易組織貿易技術壁壘（TBT）委員會發布的《關于制定國際標準、指南和建議的原則的決定》中確立的國際公認的標準化原則制定的。