• <li id="ccaac"></li>
  • <table id="ccaac"><rt id="ccaac"></rt></table>
  • <td id="ccaac"></td>
  • <td id="ccaac"></td>
  • NF EN 60749-40:2012
    半導體器件 - 機械和氣候測試方法 - 第 40 部分:使用應變儀的板級跌落測試方法

    Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: Board-level drop test method using a strain gauge


    標準號
    NF EN 60749-40:2012
    發布
    2012年
    發布單位
    法國標準化協會
    當前最新
    NF EN 60749-40:2012
     
     
    介紹
    該標準規定了半導體器件在機械和氣候測試中的板級跌落測試方法。具體而言,它描述了使用應變儀進行測試的詳細步驟和技術要求,以評估板級器件在跌落實驗中的性能表現。

    ***此介紹可能不準確,請注意參考原文。


    NF EN 60749-40:2012相似標準





    Copyright ?2007-2025 ANTPEDIA, All Rights Reserved
    京ICP備07018254號 京公網安備1101085018 電信與信息服務業務經營許可證:京ICP證110310號
    頁面更新時間: 2025-04-01 09:35

  • <li id="ccaac"></li>
  • <table id="ccaac"><rt id="ccaac"></rt></table>
  • <td id="ccaac"></td>
  • <td id="ccaac"></td>
  • 床戏视频