DB44/T 1215-2013
利用掃描電子顯微術和X射線能譜法表征單壁碳納米管的特性
Characterization of Single-Walled Carbon Nanotubes Using Scanning Electron Microscopy and Energy Spectroscopy
DB44/T 1215-2013 中，可能用到以下儀器設備
DB44/T 1215-2013相似標準
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DB44/T 1215-2013 中可能用到的儀器設備
電鏡用X射線能譜儀EDS
原位樣品桿/臺
X射線能譜儀(EDS)
X熒光光譜/XRF（能量色散型X熒光光譜儀）
透射電鏡TEM
掃描探針/原子力顯微鏡SPM/AFM
掃描電鏡SEM
顯微圖像分析系統
超分辨率顯微鏡
FIB-SEM雙束聚焦掃描電鏡
X射線顯微鏡
拉曼光譜儀
打標/雕刻/噴碼/噴墨/刻印機
納米壓痕儀、劃痕儀
固體(粉末)表面分析儀
其它物性測試儀器
其他試驗機
均質器 /勻漿機/乳化機
催化劑評價
電子束刻蝕
化學合成儀
納米藥物制備及遞送
蛋白質純化系統
晶圓處理和測試
聚烯烴表征分析
其他包裝業專用
其它行業專用
粒子圖像測速儀(PIV)
信號采集處理
原子層沉積(ALD)
化學氣相沉積（CVD）
半導體專用檢測儀器設備