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IEC 60749-28:2022
半導體器件.機械和氣候試驗方法.第28部分:靜電放電（ESD）靈敏度試驗.帶電器件模型（CDM）.器件級

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level

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標準號: IEC 60749-28:2022
發布: 2022年
發布單位: 國際電工委員會
當前最新: IEC 60749-28:2022

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