BS ISO 23729:2022
表面化學分析 原子力顯微鏡 有限探針尺寸擴張的原子力顯微鏡圖像恢復程序指南
Surface chemical analysis. Atomic force microscopy. Guideline for restoration procedure for atomic force microscopy images dilated by finite probe size
BS ISO 23729:2022 中，可能用到以下儀器設備
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- 標準號
- BS ISO 23729:2022
- 發布
- 2022年
- 發布單位
- 英國標準學會
- 當前最新
- BS ISO 23729:2022
范圍 本文件描述了原子力顯微鏡 (AFM) 探針探針尖端的定量表征程序以及通過有限探針尺寸放大的 AFM 形貌圖像的恢復。使用合適的參考材料通過圖像重建提取探針頂點的三維形狀。本文件適用于固體材料表面AFM形貌圖像的重建。