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ASTM STP 349-1964
X射線及電子探針分析研討會

Symposium on X-ray and Electron Probe Analysis

預覽 ASTM STP 349-1964前三頁

標準號: ASTM STP 349-1964
發布: 1964年
總頁數: 218頁
發布單位: 美國材料與試驗協會
當前最新: ASTM STP 349-19


本體: 電子探針顯微分析

適用范圍: 該研討會涵蓋的主題包括但不限于X射線和電子探針光譜學的基本概念、技術以及實際應用中的定量分析方法。

X射線光譜分析 X-ray spectrography	一種通過分析樣品發出的特征X射線光譜來確定元素組成的分析技術
電子探針顯微分析 electron probe microanalysis	一種使用聚焦的電子束激發樣品并檢測發出的特征X射線來進行微區成分分析的技術

ASTM STP 349-1964 中提到的儀器設備

X射線光譜儀	用于記錄和分析X射線光譜的裝置，通常由X射線源、分光晶體、檢測器等組成
電子探針顯微鏡	一種帶有高分辨率電子槍和探測器的顯微鏡，用于聚焦電子束在樣品表面并分析發出的X射線

ASTM STP 349-1964相似標準

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