BS EN IEC 60749-10:2022
半導體器件 機械和氣候測試方法 機械沖擊 設備和組件
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Mechanical shock. device and subassembly
- 標準號
- BS EN IEC 60749-10:2022
- 發布
- 2022年
- 發布單位
- 英國標準學會
- 當前最新
- BS EN IEC 60749-10:2022
- 適用范圍
- 范圍 IEC 60749 的本部分旨在評估自由狀態下的設備并組裝到印刷線路板上以供電氣設備使用。 該方法旨在確定設備和組件承受中等強度沖擊的兼容性。 使用子組件是一種在組裝到印刷線路板上的使用條件下測試設備的方法。 由于突然施加的力或搬運、運輸或現場操作產生的運動突然變化而產生的機械沖擊可能會擾亂操作特性，特別是在沖擊脈沖重復的情況下。 這是用于設備鑒定的破壞性測試。
專題
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