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  • BS EN IEC 60749-10:2022
    半導體器件 機械和氣候測試方法 機械沖擊 設備和組件

    Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Mechanical shock. device and subassembly


    BS EN IEC 60749-10:2022 發布歷史

    BS EN IEC 60749-10:2022由英國標準學會 GB-BSI 發布于 2022-08-31,并于 2022-08-31 實施。

    BS EN IEC 60749-10:2022在國際標準分類中歸屬于: 31.080.01 半導體器分立件綜合。

    BS EN IEC 60749-10:2022 半導體器件 機械和氣候測試方法 機械沖擊 設備和組件的最新版本是哪一版?

    最新版本是 BS EN IEC 60749-10:2022

    BS EN IEC 60749-10:2022的歷代版本如下:

     

    范圍 IEC 60749 的本部分旨在評估自由狀態下的設備并組裝到印刷線路板上以供電氣設備使用。 該方法旨在確定設備和組件承受中等強度沖擊的兼容性。 使用子組件是一種在組裝到印刷線路板上的使用條件下測試設備的方法。 由于突然施加的力或搬運、運輸或現場操作產生的運動突然變化而產生的機械沖擊可能會擾亂操作特性,特別是在沖擊脈沖重復的情況下。 這是用于設備鑒定的破壞性測試。

    BS EN IEC 60749-10:2022

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    標準號
    BS EN IEC 60749-10:2022
    發布
    2022年
    發布單位
    英國標準學會
    當前最新
    BS EN IEC 60749-10:2022
     
     

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