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  • GB/T 41033-2021
    CMOS集成電路抗輻射加固設計要求

    Design requirements of radiation hardening for CMOS IC

    GBT41033-2021, GB41033-2021


    GB/T 41033-2021

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    標準號
    GB/T 41033-2021
    別名
    GBT41033-2021
    GB41033-2021
    發布
    2021年
    總頁數
    20頁
    發布單位
    國家市場監督管理總局、中國國家標準化管理委員會
    當前最新
    GB/T 41033-2021
     
     
    引用標準
    GB/T 9178

    本文件規定了CMOS集成電路抗輻射(總劑量、單粒子)加固設計的流程、設計要求、建模仿真、驗證試驗要求。 本文件適用于基于體硅/SOICMOS工藝的數字集成電路、模擬集成電路和數模混合集成電路的抗輻射(總劑量、單粒子)加固設計。

    術語 
    總劑量輻射效應 Total Ionizing Dose Effects (TID)
    單粒子效應 Single Event Effects (SEE)

    GB/T 41033-2021 中可能用到的儀器設備


    專題


    GB/T 41033-2021相似標準





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