<td id="ccaac"></td>

<table id="ccaac"><rt id="ccaac"></rt></table>

正版標準0元購

正版標準0元購

IEC 60749-18:2019
半導體器件 - 機械和氣候測試方法 - 第18部分:電離輻射（總劑量）

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose)

預覽 IEC 60749-18:2019前三頁

標準號: IEC 60749-18:2019
發布: 2019年
總頁數: 48頁
發布單位: 國際電工委員會
當前最新: IEC 60749-18:2019

IEC 60749-18:2019相似標準

GB/T 4937.23-2023 半導體器件機械和氣候試驗方法第23部分：高溫工作壽命 DANSK DS/EN 60749-18:2003 半導體器件機械和氣候測試方法第18部分：電離輻射（總劑量） DIN EN IEC 60749-18:2020-02 半導體器件機械和氣候測試方法第18部分：電離輻射（總劑量） DANSK DS/EN IEC 60749-18:2019 半導體器件機械和氣候測試方法第18部分：電離輻射（總劑量） UNE-EN IEC 60749-18:2019 半導體器件機械和氣候測試方法第18部分：電離輻射（總劑量）

Copyright ?2007-2025 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP備07018254號京公網安備1101085018 電信與信息服務業務經營許可證：京ICP證110310號
頁面更新時間: 2025-08-11 10:36

<td id="ccaac"></td>

<table id="ccaac"><rt id="ccaac"></rt></table>