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  • ASTM E2446-24
    計算機射線照相系統制造特性的標準實施規程

    Standard Practice for Manufacturing Characterization of Computed Radiography Systems


    標準號
    ASTM E2446-24
    發布
    2024年
    發布單位
    美國材料與試驗協會
    當前最新
    ASTM E2446-24
     
     
    引用標準
    ASTM E1165 ASTM E1316 ASTM E1815 ASTM E2002 ASTM E2007 ASTM E2033 ASTM E2445 ASTM E2597 ASTM E2903 ASTM E746 ISO 17636-2
    適用范圍
    1.1 本規范涵蓋計算機射線照相術 (CR) 系統的制造特性,該系統由特定的熒光成像板 (IP)、掃描儀、軟件、掃描儀操作參數和圖像顯示器組成,并結合了工業射線照相術專用的金屬屏。
    1.2 本規范定義了用于表征不同供應商的系統并使用戶可進行比較的系統測試。
    1.3 本規范旨在供 CR 系統制造商或認證機構使用,為無損檢測 (NDT) 用戶或購買者提供 CR 系統特性的定量結果。其中一些測試需要專門的測試模型,以確保供應商或制造商之間的結果一致性。這些測試不打算讓用戶完成,也不打算用于長期穩定性跟蹤和壽命測量。但是,如果需要,它們可以用于此目的。實踐 E2445 描述了旨在讓用戶觀察 CR 性能和測試長期穩定性的測試。
    1.4 CR 系統性能由基本空間分辨率、對比度、信號和噪聲參數以及等效穿透儀靈敏度 (EPS) 描述。其中一些參數用于與 DDA 特性和膠片特性數據進行比較(見 E2597 實踐和 E1815 測試方法)。注 1 — 對于膠片系統特性,信號用 2 的光密度(高于霧和基底)表示,噪聲用粒度表示。信噪比由系統的孔徑(類似于基本空間分辨率)歸一化,是特性的一部分。該歸一化由微光度計的 100 μm 掃描圓形孔徑給出,該孔徑在 E1815 膠片系統特性測試方法中定義。
    1.5 本實踐中 CR 系統的測量僅限于選定的輻射質量,以簡化程序。CR 系統的屬性將隨輻射能量而變化,但 CR 系統性能的等級不會變化。如果需要,本實踐的用戶可以在不同或額外的輻射質量(X 射線或伽馬射線)下進行測試。
    1.6 以 SI 表示的值應視為標準。
    1.7 本標準并不旨在解決與其使用相關的所有安全問題(如果有)。本標準的使用者有責任在使用前制定適當的安全、衛生和環境實踐并確定監管限制的適用性。
    1.8 本國際標準是根據世界貿易組織技術貿易壁壘 (TBT) 委員會發布的《關于制定國際標準、指南和建議的原則的決定》中確定的國際公認的標準化原則制定的。

    專題


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