IEC 60747-5-16:2023
半導體器件.第5-16部分:光電子器件.發光二極管.基于光電流光譜的GaN基發光二極管的平帶電壓的試驗方法
Semiconductor devices - Part 5-16: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of the flat-band voltage of GaN-based light emitting diodes based on the photocurrent spectroscopy
- 標準號
- IEC 60747-5-16:2023
- 發布
- 2023年
- 總頁數
- 5頁
- 發布單位
- 國際電工委員會
- 當前最新
- IEC 60747-5-16:2023
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標準名稱: 半導體器件 - 第5-16部分：光電子器件 - 發光二極管 - 基于光電流光譜法的GaN基發光二極管平帶電壓測試方法
適用范圍: 本標準規定了基于光電流光譜法的GaN基發光二極管平帶電壓的測試方法。適用于在特定條件下對GaN基發光二極管進行平帶電壓的測量。
本標準詳細描述了測量方法的基本要求、測量條件和設備，以及測量的原理和步驟。通過光電流光譜法，可以準確測量GaN基發光二極管的平帶電壓，為相關器件的性能評估提供科學依據。