SEM,EDS,XRD的區別,SEM是掃描電鏡,EDS是掃描電鏡上配搭的一個用于微區分析成分的配件——能譜儀,是用來對材料微區成分元素種類與含量分析,配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。XRD是X射線衍射儀,是用于物相分析的檢測設備。...
用細聚焦電子束入射樣品表面,激發出樣品元素的特征x射線。 分析特征x射線的波長(或特征能量)即可知道樣品中所含元素的種類(定性分析)。 分析x射線的強度,則可知道樣品中對應元素含量的多少(定量分析)。 電子探針儀鏡筒部分的構造大體上和掃描電子顯微鏡相同,只是在檢測器部分使用的是x射線譜儀,專門用來檢測x射線的特征波長或特征能量,以此來對微區的化學成分進行分析。 ...
? 設備功能:? 主要用于無機材料微觀結構與組成的分析和研究,儀器的功能包括:? 電子衍射:選區衍射、微束衍射、會聚束衍射? 成像:衍襯像(明、暗場像)、高分辨像 (HREM)、掃描透射像 (明場像、環狀暗場像)? 微區成分:EDS能譜的點、線和面分析? 原位表征:溫場下的結構演變 (加熱樣品桿附件:室溫~1000°C)? 應用范圍? 材料范圍:除磁性材料之外的任何無機材料,包括粉體...
能譜儀(EDS,Energy Dispersive Spectrometer)是用來對材料微區成分元素種類與含量分析,配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。...
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