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JJG(教委) 12-1992
透射電子顯微鏡檢定規程

Calibration Regulations for Transmission Electron Microscopy

透射電子顯微鏡檢定規程 是非強制性國家標準，您可以免費下載預覽頁

JJG(教委) 12-1992 中，可能用到以下儀器設備

日本電子JEM-1400Flash 透射電子顯微鏡

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JEM-ARM200F NEOARM 原子級分辨率透射電子顯微鏡

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Titan Krios G2冷凍透射電子顯微鏡（cryo-TEM）

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Tecnai G2 20 200kV透射電子顯微鏡

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Themis透射電子顯微鏡

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Talos Arctica G2冷凍透射電子顯微鏡

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標準號: JJG(教委) 12-1992
發布: 1992年
發布單位: 國家計量檢定規程

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